판매용 중고 ORBOTECH Discovery II 8200 #9304603

ORBOTECH Discovery II 8200은 테스트 적용 범위와 비용 효율성을 극대화하기 위해 설계된 강력한 PC 보드 테스트 장비입니다. 최신 장애 분석 패키지, 비용 절감 (cost-saving) 멀티 사이트 테스트, 다양한 운영 지향 옵션 등 다양한 구성 요소에 대한 대규모 핀 수 (pin count) 테스트를 제공합니다. 이 시스템은 사이트 전체에서 탁월한 테스트 정확성과 일관성을 제공하도록 설계되었습니다. 이 제품은 복잡한 Board Test 및 Failure Analyses 작업을 단순화하는 직관적인 사용자 인터페이스를 갖추고 있습니다. Discovery II 8200은 ORBOTECH 보드 테스트 시스템 중 가장 높은 채널 밀도를 제공합니다 (선형 인치당 최대 144 핀). 이 고집적 (high-density) 테스트를 통해 다양한 구성 요소를 테스트하는 데 필요한 실행 시간을 최소화하여 주기 (cycle) 와 운영 비용을 줄일 수 있습니다. 또한 테스트 범위를 늘리는 한편, 수동 검사가 필요하지 않습니다. 이 장치는 ORBOTECH 스캔 테스트 기술 (scan test technology) 과 완벽하게 통합되어 사용자가 디지털 패턴을 사용하여 보드의 개별 구성 요소를 확인할 수 있습니다. 이것은 생산 프로세스의 잠재적 문제를 식별하는 데 도움이됩니다. 이 시스템은 복잡한 보드 테스트 및 장애 분석 작업을 단순화하는 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 를 갖추고 있습니다. 보드 설정은 몇 번의 클릭으로 이루어지며 여러 사이트를 동시에 테스트할 수 있으므로 테스트 적용 범위 (Test Coverage) 와 효율성 (Efficiency) 이 향상됩니다. 이 도구는 보드에 존재하는 컴포넌트 혼합을 테스트할 수 있으며 ORBOTECH DiscessVision Defect Analysis (ORBOTECH Comment Vision Defect Analysis) 자산에 통합되어 수면전기를 감지하고 분리할 수 있습니다. 또한 ORBOTECH Discovery II 8200은 다양한 고급 생산 지향 옵션을 제공합니다. 벡터 비접촉 테스트, ODS (Optimized Design Strategies) 테스트 및 AC 테스트를 포함한 다양한 빠른 테스트 절차를 사용할 수 있습니다. AC 테스트는 특수 고밀도 회로에 대한 저렴한 적용 범위를 제공하도록 설계되었습니다. 이 모델은 픽 앤 플레이스 (Pick and Place) 프로그래밍도 가능하며 ORBOTECH 소프트웨어와 통합하여 어셈블리 프로세스를 더욱 자동화할 수 있습니다. 결론적으로, 하나의 후드 (hood) 로 구성된 모든 기능을 통해 Discovery II 8200은 테스트 적용 범위와 비용 효율성을 극대화하는 데 이상적인 솔루션입니다. 통합된 디지털 패턴 확인 (digital pattern verification) 및 고밀도 테스트 (high-density testing) 를 통해 장비는 생산의 탁월한 정확성과 일관성을 보장합니다.