판매용 중고 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT Medalist 3070-III #9252607

AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT Medalist 3070-III
ID: 9252607
빈티지: 2007
In-Circuit Tester (ICT) testhead name "testhead1" "module3" "module2" line frequency 50 !relay 1 controls vacuum 2, 3 !relay 2 controls vacuum 0, 1 !relay 4 controls vacuum 0 !relay 3 controls vacuum 1 relay 2 controls vacuum 2 relay 1 controls vacuum 3 bank 2 module 2 cards 1 asru c revision cards 4 unmuxed hybrid double density 144 cards 5 unmuxed hybrid double density 144 cards 6 control xtp 64 cards 7 unmuxed hybrid double density 144 cards 8 unmuxed hybrid double density 144 cards 9 unmuxed hybrid double density 144 cards 10 unmuxed hybrid double density 144 cards 11 unmuxed hybrid double density 144 supplies hp6624 5 to 8 asru channels 1 to 4 end module module 3 probe debug port cards 1 asru c revision cards 2 unmuxed hybrid double density 144 cards 3 unmuxed hybrid double density 144 cards 4 unmuxed hybrid double density 144 cards 5 unmuxed hybrid double density 144 cards 6 control xtp 64 cards 7 unmuxed hybrid double density 144 cards 8 unmuxed hybrid double density 144 cards 9 unmuxed hybrid double density 144 supplies hp6624 1 to 4 asru channels 1 to 4 end module end bank 2007 vintage.
AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT Medalist 3070-III는 기업에서 전자 회로 보드의 비용 효율적인 회로 내 테스트 (ICT) 를 수행 할 수있는 종합적인 PC 보드 테스트 장비입니다. 이 시스템은 인쇄 회로 기판 (Printed Circuit Board) 및/또는 소형화된 컴포넌트 (Miniaturized Component) 의 테스트 플랫폼으로 사용할 수 있도록 특수 소프트웨어 응용 프로그램이 설치된 워크스테이션으로 구성됩니다. 턴키 장치로서, HP Medalist 3070-III는 완전한 회로 내 (in-circuit) 테스트를 수행하기 위해 필요한 모든 구성 요소를 조립하며, 사전 구성된 테스트 프로그램과 구현 절차를 모두 포함합니다. AGILENT Medalist 3070-III 머신은 사용자가 보드의 회로 내 (in-circuit) 테스트를 수행하기 위해 안정적이고 비용 효율적인 방법을 제공합니다. 전체 테스트 기능을 제공하며 자세한 보고서를 작성합니다. 이 툴은 매우 신속하고 사용자 친화적으로 구성할 수 있으며, 이 툴을 사용하여 기술자가 이 툴을 설정하고 몇 분 안에 테스트 실행을 시작할 수 있습니다. 이 자산은 또한 자동 테스트 패턴 생성, 다중 스캔 목록, 테스트 루핑 및 외부 통신을위한 TriggerIO 포트를 포함한 다양한 ICT 라이트 기능을 제공합니다. 테스트를 용이하게하기 위해 메달리스트 3070-III (Medalist 3070-III) 모델은 다양한 테스트 프로브와 함께 작동하며, 이를 사용하여 컴포넌트 핀 지정을 측정하고 테스트할 수 있습니다. 이러한 프로브는 저항, 커패시턴스, 전력 소비, 전압, 주파수 등 다양한 매개변수를 테스트하는 데 사용될 수 있습니다. 또한, 프로브를 사용하여 컴포넌트가 사양과 표준을 충족하는지 확인할 수 있습니다. KEYSIGHT Medalist 3070-III 장비는 에너지 효율성을 위해 미국 에너지 부 (Department of Energy) 의 완전한 인증을 받았으며 RoHS 표준을 준수합니다. 또한 외부 간섭으로부터 보호하기 위해 EMI/EMC 차폐를 통해 설계된 군용 및 항공 우주 테스트 (Aerospace Testing) 애플리케이션에도 사용할 수 있습니다. 이 시스템은 UL, CE 및 CSA의 인증을 받았습니다. 자동 테스트 기능 외에도, HEWLETT-PACKARD Medalist 3070-III 장치에는 사용자가 보드를 분석, 문제 해결하도록 하는 일련의 진단 도구가 장착되어 있습니다. 이러한 도구를 사용하여 결함 있는 컴포넌트를 감지하고, 보드 성능을 분석하고, 추가 테스트가 필요한 영역을 식별할 수 있습니다. 결론적으로 AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT Medalist 3070-III는 복잡하고 복잡한 구성 요소 및 보드에 대한 회로 테스트 수행에 필요한 도구와 기능을 사용자에게 제공하는 포괄적이고 비용 효율적인 PC 보드 테스트 기계입니다. 이 툴은 매우 안정적이고 안전하며, 엄격하고 집약적인 테스트 (testing) 애플리케이션에 이상적인 솔루션이 됩니다. 또한, 다양한 표준을 준수하여 다양한 응용 프로그램 (application) 과 산업 (industries) 에 사용할 수 있습니다.
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