판매용 중고 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 3070 Series II #9203268

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 3070 Series II PC 보드 테스트 장비는 PCB (인쇄 회로 기판) 및 기타 관련 전자 부품에 대한 자동 테스트 및 진단 시스템입니다. 생산 및 엔지니어링 실험실을 위해 설계된 3070은 하나의 통합 장치에 포함된 자동 회로 내 테스트, 경계 스캔, 자동 광학 검사 (AOI), XY 좌표 검사, 파형 분석 및 기능 테스트를 제공합니다. 3070의 회로 내 테스트 머신은 보드 레벨 솔더 연결, 액티브 (Active) 및 패시브 (Passive) 구성 요소, 개방 및 단편을 검사합니다. 올바른 컴포넌트 배치를 파악하고 DC 회로를 전자적으로 표시할 수 있습니다. 장애 격리 및 문제 해결을 위해 3070은 불일치 영역의 근본 원인을 정확히 파악하고 '정상 작동이 확인된 (known good)' 상태를 설정할 수 있습니다. 내장된 '최첨단' 장애 진단을 통해 어떤 구성 요소가 문제를 일으키는지 확인할 수 있습니다. 3070은 또한 테스트 범위를 늘리는 효과적인 방법 인 경계 스캔 (boundary scan) 을 제공합니다. 경제적이고, 고품질, 회로 내 테스트를 위해 I/O 핀에 직접 액세스할 수 있습니다. 통합 경계 스캔 프로세서 (boundary scan processor) 는 3070의 테스트 도구 사용을 단순화하는 전용 경계 스캔 명령 세트 아키텍처를 생성합니다. 경계 스캔 외에도 3070은 자동 광학 검사 (AOI) 도 가능합니다. 이를 통해 미세한 수준으로 검사하고 솔더 브릿지, 반바지, 열린 회로, 극성 반전 (polarity reversals) 등과 같은 결함을 확인할 수 있습니다. 또한 기호를 컴포넌트 및 패턴 인식과 비교할 수 있습니다. 3070에는 XY 좌표 검사, 파형 분석 및 기능 테스트도 있습니다. XY 좌표 프로브는 전기 측정을 쉽고 빠르게 완료하는 데 도움이됩니다. 그리고 소형 신호 테스트의 경우, 3070은 유연한 트리거 (trigger) 와 시간 기반이있는 오실로스코프 (oscilloscope) 를 통합하여 정확한 신호 특성 및 응답 분석을 제공합니다. 자산의 기능 테스트 구성 요소는 회로 내 액추에이터, 촉각 센서, RF 수신기 및 RCT와 같은 항목의 벤치 레벨 벤치 레벨 테스트에 사용됩니다. HP 3070 Series II PC Board Test Model (HP 3070 시리즈 II PC 보드 테스트 모델) 은 다양한 자동 테스트 및 진단 구성 요소로 전자 부품을 테스트하고 진단할 수 있는 강력하고 효율적인 방법을 제공합니다. 최첨단 기능을 통해 모든 장애 또는 복제 문제를 정확하고 신속하게 감지할 수 있으며, 엔지니어링/프로덕션 연구소 모두에 큰 도움이 됩니다.