판매용 중고 STARRETT Galileo AV200 #9036248

STARRETT Galileo AV200
ID: 9036248
Video measurement system Bench-top system X-Y-Z measuring range: 8" x 4" x 6" X-Y AccuracyE2=1.9+L/1000 µm Z Accuracy E1=2.5+5L/1000 µm System software: Quadra Chek QC5200 Zoom optics: 6.5:1 S-video color camera: analog or digital Digital video color Camera with QC5000 Surface ring illumination: LED or Fi-O Transmitted illumination: LED or Fi-O Coaxial illumination Optional dark field quadrant illumination: LED only Optional: Auxiliary lenses: .5X, 2.0X Workstation art: fixturing Video pixel calibration Standard optional calibration Standards Includes: 0.5 axillary lens for 6:5:1 zoom lens Currently crated.
STARRETT Galileo AV200은 정밀 2D 측정 및 부품 검사 응용 프로그램을 위해 설계된 광학 비교기입니다. 이 고성능 머신은 뛰어난 정확성과 반복성으로 작은 부품을 측정 할 수 있습니다. 이중축 설계를 통해 지름, 반지름, 프로파일, 각도, 반올림 부족, 직선, 런아웃, 코너 라운드 등 다양한 기하학적 검사 측정을 제공할 수 있습니다. AV200은 200 x 100 mm (8 x 4 ") 측정 범위를 갖추고 있으며 시각적 확대 범위의 최대 10 배까지 부품을 측정 할 수 있습니다. 인체 공학적으로 설계된 컨트롤 패널 (Control Panel) 은 초보자 사용자에게도 직관적이며 여러 가지 기능을 갖추고 있으며, 사용자 경험과 측정 정확성을 향상시킵니다 (영문). 이 기계에는 강력한 이미징 분석 엔진으로 구동되는 STARRETT Galileo 소프트웨어가 포함되어 있습니다. 이를 통해 사용자는 부품의 형상을 분석하여 CAD 모델과 비교할 수 있습니다. 혁신적인 소프트웨어를 통해 운영자는 여러 영역을 동시에 보거나, 모서리 감지 (edge detection) 를 수행하거나, 자동화된 프로세스를 사용하여 여러 부품을 분석하는 등의 맞춤형 기능을 프로그래밍할 수 있습니다. AV200의 Light Source Illumination Equipment도 정확한 결과를 얻도록 설계되었습니다. 이 시스템은 산란도가 낮고 그림자를 제거하는 여러 호 모양의 LED 광원으로 구성됩니다. 조정 가능한 명암비 제어 노브 (Contrast Control Knob) 와 결합하면 높이 (Height) 나 반지름 (Radius) 치수와 같은 중요한 피쳐를 효과적으로 검사하고 도량형 도구를 사용하여 부품 피쳐를 신속하게 모니터링할 수 있습니다. 또한 이 기계에는 자동 초점 렌즈 장치 (auto-focus lens unit) 가 포함되어 있어 테스트된 부품 크기와 모양에 대한 최적의 초점 길이를 보장합니다. 이를 통해 측정값의 속도와 반복성을 크게 높일 수 있고, '부품 간 빠르게 전환' 을 허용하며, '수동 초점' 의 필요성을 없앨 수 있습니다. 갈릴레오 AV200 (Galileo AV200) 은 정밀하고 안정적인 부품 검사를 위해 정밀 선형 가이드 머신과 직접 구동 모터를 갖추고 있습니다. 이 도구는 X 축과 Y 축 모두에서 매우 정확한 측정을 생성하여 다양한 측정 (measurement) 및 부품 (part) 에 걸쳐 반복성을 보장합니다. 이 기계에는 추가 정확도에 대한 조정 가능한 백래시 보상이 포함되어 있습니다. STARRETT Galileo AV200은 부품 검사 및 품질 관리 어플리케이션에 이상적인 솔루션입니다. 뛰어난 정확도, 강력한 소프트웨어, 조절식 광원 조명 (Adjustable Light Source Illumination) 의 조합으로, 운영자가 가장 정확한 측정값을 얻고, 부품 검사 사이를 빠르게 전환하고, 최고 수준의 출력을 보장하도록 도울 수 있습니다.
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