판매용 중고 HITACHI CP-X8170/7 #293616670

HITACHI CP-X8170/7 광학 비교기 (Optical Comparator) 는 밝은 LED/Xenon 광원, 고해상도 광학 렌즈, 고급 이미지 처리 시스템을 사용하여 주어진 템플릿과 부품을 정확하게 측정하고 비교하는 정밀 검사 및 측정 기계입니다. 그것은 최대 190mm의 인상적인 측정 범위를 가지고 있으며, 10 배에서 500 배 사이의 넓은 배율을 가지고 있습니다. CP-X8170/7은 높은 정확성과 안정적인 작동을 위해 설계되었습니다. 치수보정 (dimension compensation) 과 게이지 변환 (gauge conversion) 을 위한 특수 알고리즘을 사용하여 측정 결과에 부정적인 영향을 미치므로 비용이 많이 드는 재보정이 필요하지 않습니다. LED/제논 광원 (LED/Xenon light source) 은 전력 소비를 줄이고 깜박임이 최소화되면서 밝은 빛을 내어 최적의 측정 환경을 제공합니다. 고급 이미지 처리 시스템에는 프로파일 (profile), 모서리 (edge), 마크 검사 (mark inspection), 지름 측정 모듈 (diameter measurement module) 등 여러 가지 강력한 기능이 장착되어 있습니다. 프로파일 측정에서는 횡단면 측정을 수행할 수 있고, 모서리 측정에서는 모서리를 인식하고 모서리의 좌표를 결정할 수 있습니다. Mark Inspection 모듈은 등록된 표시, 체크 위치 또는 부품 위치를 인식하거나 모서리 변형을 인식할 수 있습니다. 지름 측정 모듈은 원형 모양과 반지름 측정을 감지할 수 있습니다. CP-X8170/7에는 신뢰성과 반복 가능성을 보장하는 몇 가지 기능이 있습니다. 온도 변화에 관계없이 측정 결과의 일관성을 유지할 수있는 프로젝터 와이드 온도 제어 (Projector Wide Temperature Control) 가 특징입니다. 이미지 처리 시스템에는 소음 제거 알고리즘 (noise elimination algorithm) 이 장착되어 있으므로 다양한 소스에서 소음이 줄어들어 반복성이 보장됩니다. 또한 내장 열 프린터를 사용하여 측정 결과 (measurement results) 및 교정 데이터를 인쇄할 수 있습니다. 전체적으로 HITACHI CP-X8170/7 광학 비교기 (Optical Comparator) 는 다양한 검사 및 측정 작업에 적합한 안정적이고 정확한 측정/비교 머신을 필요로 하는 고객에게 적합한 옵션입니다. 직관적인 인터페이스 (interface) 와 수많은 강력한 기능을 통해 반복성 (repeatability) 과 신뢰성 (안정성) 을 보장하고 정확한 결과를 제공하므로 다양한 검사 작업에 이상적인 툴이 될 수 있습니다.