판매용 중고 VEECO NanoScope 3D #293665066

제조사
VEECO
모델
NanoScope 3D
ID: 293665066
Microscope.
VEECO Nano Scope 3D는 재료 표면의 매우 상세한 3D 이미지를 생성하는 원자력 현미경 (AFM) 입니다. 고급 설계는 극심한 온도, 압력, 화학 역학적 응력 (chemo-mechanical stress) 을 가진 것을 포함하여 광범위한 조건에서 샘플의 영상을 허용합니다. Nano Scope 3D는 원자력 현미경을 사용하여 샘플의 나노 스케일 기능을 측정합니다. 이 기술은 스캔 된 프로브 팁 (scanned probe tip) 을 샘플 서피스에 전달한 다음 각 위치의 힘을 측정함으로써 작동합니다. 팁은 일반적으로 캔틸레버 (cantilever) 에 연결되어 있으며, 이 팁은 서피스 샘플을 통과할 때 편향되어 더 자세한 읽기가 가능합니다. 또한 "캔틸레버 '광선 에는 표본 의 광선 을 발하는" 레이저' 가 들어 있다. 샘플을 스캔할 때, 반사된 빔이 기록되어, 샘플의 표면에 존재하는 것에 대한 3D 이미지를 제공합니다. 이 현미경은 나노 미터 스케일 (미크론의 1/1000) 에서 샘플 피쳐를 측정 할 수 있습니다. 최대 10 나노미터의 해상도로 3D 이미지를 만들 수 있습니다. VEECO Nano Scope 3D는 능선, 참호, 범프, 구멍 등과 같은 나노 크기의 기능을 정확하게 측정 할 수도 있습니다. 또한, 시스템은 나노 미터 (nanometer) 수준에서 표면 접착력을 측정 할 수 있으며, 결합 강도 및 분자 상호 작용 힘의 정량 적 분석을 가능하게한다. Nano Scope 3D에는 스캐닝 프로세스를 향상시킬 수있는 다른 기능도 포함되어 있습니다. 통합 로봇 스캐너를 사용하면 위치 지정 및 샘플 동작이 쉽습니다. 또한 고속 스캐너 (High Speed Scanner) 로 설계되어 초당 최대 100 프레임의 속도에 도달하여 이미지 처리 시간을 단축할 수 있습니다. 또한 VEECO Nano Scope 3D는 정적 이미징, 힘 분광법, 탭 처리 모드 등 여러 AFM 스캔 모드와 호환되도록 설계되었습니다. 또한 수집된 데이터를 해석할 수 있는 다양한 이미징 (Imaging) 및 분석 (Analysis) 소프트웨어가 포함되어 있습니다. 이미징 프로세스를 보다 쉽게 하기 위해 Nano Scope 3D에는 완전 자동 교정 기능이 포함되어 있어 캔틸레버 빔 (cantilever beam) 팁의 정확한 위치를 지정할 수 있습니다. 이렇게 하면 서피스 피쳐를 보다 정확하게 측정할 수 있습니다. 전반적으로 VEECO Nano Scope 3D는 매우 강력하고 다양한 현미경으로, 나노 스케일 기능에 대한 매우 상세한 3D 이미지를 제공 할 수 있습니다. 혁신적 인 "디자인 '은 광범위 한 상태 에서 사용 할 수 있게 해 주며, 이" 디자인' 은 연구 와 산업 응용 을 위한 귀중 한 도구 이다.
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