판매용 중고 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope IV #293667630
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ID: 293667630
Atomic Force Microscopes (AFM)
Includes:
Remotecontroller
Cables
Does not include PC.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope IV는 나노 스케일 표면 분석을 용이하게하도록 설계된 고성능 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 그것은 우수한 광학 시스템과 최첨단 스캐닝 전자 열 (state-of-the-art scanning electron column) 을 결합하여 개별 나노 스케일 구조의 검출 및 특성을 가능하게합니다. VEECO Nanoscope IV의 고급 광학 시스템은 뛰어난 명암과 해상도로 고품질의 이미지를 효율적으로 캡처하고 변환합니다. 이중 탐지기 이미지 캡처 시스템 (Dual-Detector Image Capture System) 을 사용하여 연구자들은 작은 개체의 심도 이미지뿐만 아니라 검출기의 신호 대 노이즈 비율 (Signal-to-Noise Ratio) 로 인해 소음이 낮은 이미지를 얻을 수 있습니다. 특수 2 차 전자 검출기의 통합은 표준 이미징 기능 외에도 3D 표면 프로파일 생성 (generation of 3D surface profile) 을 가능하게한다. DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope IV의 스캐닝 전자 열은 분석되는 각 샘플의 원소 조성에 민감한 특수 에너지 분산 X- 선 (EDX) 검출기를 사용합니다. 연구자들은 EDX와 SEM 이미징 (SEM Imaging) 을 결합하여 개별 원자와 분자를 보고 연구 중인 샘플의 물질 분포를 감지 할 수 있습니다. 또한, Nanoscope IV (Nanoscope IV) 의 통합 자동화 및 사용자 인터페이스를 통해 정확한 샘플 포지셔닝 및 정렬을 통해 사용자는 샘플 분석에 집중할 수 있습니다. VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS 나노 스코프 IV (VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope IV) 는 예측 정확도로 나노 스케일 구조와 재료의 정확한 특성을 가능하게하기 때문에 연구원들에게 귀중한 도구입니다. 또한 VEECO Nanoscope IV (VEECO Nanoscope IV) 를 사용하면 다운타임이 최소화되고 전반적인 분석 기능이 우수하여 동일한 샘플을 반복적으로 측정하고 기록 할 수 있습니다. 마지막으로, 디지털 인스트루먼트 나노 스코프 IV (DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope IV) 는 강력하고 신뢰할 수 있도록 설계되었으며, 신뢰할 수 있고 정확한 나노 스케일 분석 장비가 필요한 실험실에 이상적인 선택입니다.
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