판매용 중고 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope IIIa #293759079
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ID: 293759079
Atomic Force Microscope (AFM)
Controller
Monocular
Cold fiber light source
MMSTMLC STM Converter
STM Heads
STM OP
Manuals
PC
Laser filter
NanoProbe SPM Nanotip.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope III a는 전례없는 정확성과 유연성을 가진 표면의 특성을 위해 설계된 스캐닝 프로브 현미경 (SPM) 입니다. 넓은 시야의 광학 장비 (optical equipment) 를 갖추고 있어 뛰어난 이미징 (imaging) 범위가 가능하며, 개인적인 개입이 거의 필요하지 않으며, 측정 범위가 넓습니다. VEECO Nanoscope III에는 업계에서 인정받는 고해상도 ImagePlus 이미징 헤드가 장착되어 있어, 공간 해상도가 개선된 화질을 제공합니다. 또한 통합 초점 시스템과 광범위한 멀티 모드 SPM 기술이 포함되어 있습니다. 코어에서 DIGITAL INSTRUMENTS NANOSCOPE III A는 FDC (Automated Force Distance Curve) 인식 장치를 사용하여 연산자가 특정 응용 프로그램에 대한 적절한 측정 매개 변수를 구성 할 수 있습니다. 이 자동화된 절차는 최고 품질의 데이터가 생성되고 측정 실행 (measuration run) 간의 일관성을 유지합니다. 또한 이 머신은 자동 및 수동 데이터 수집을 허용합니다. VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS NANOSCOPE III A는 고급 반도체 캔틸레버 설계와 다양한 이미징 팁을 사용하여 샘플 표면의 고유한 높은 정확도와 고해상도 이미징을 제공합니다. 또한, 이 도구는 고급 데이터 처리, 글리치 수정, 열 분석 및 기타 고급 옵션을 통합합니다. 이미지 처리 외에도 나노 스코프 III (Nanoscope III a) 에는 고급 노이즈 감소 기능이 포함되어 있으며, 자산의 여러 부분을 통해 광범위한 노이즈가 가능합니다. 이 모델에는 샘플의 실시간 그래픽 피드백 (graphical feedback) 과 정확한 측정 매개변수를 설정하기 위한 자동화된 장비 (automated equipment) 도 포함되어 있습니다. 즉, 이 시스템은 Windows 및 Linux 플랫폼과 모두 호환되므로 여러 기기와 데이터를 손쉽게 관리할 수 있습니다. 또한 VEECO 특허를 받은 TipCheck (tm) 기술이 포함되어 있어 장치가 팁 상태를 지속적으로 모니터링하고 각 측정에 대한 최상의 팁을 자동으로 확인할 수 있습니다. 또한 다양한 소프트웨어 옵션을 제공하며, 기기 제어 (instrument control) 및 데이터 수집 (data collection) 을 위한 다양한 원격 통신 옵션을 제공합니다. 결론적으로, VEECO NANOSCOPE III A는 업계에서 인정받는 고품질 광학 머신으로 제작 된 포괄적 인 스캐닝 프로브 현미경입니다. 이 툴은 다양한 기능과 자동화된 데이터 수집 옵션 (Automated Data Collection Option) 을 제공하며, 다양한 샘플에서 표면의 이미징 및 특성화에 적합합니다.
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