판매용 중고 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope IIIa #293586502

VEECO/Digital Instrument VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope IIa는 SPM (Scanning Probe Microscope) 으로 매우 정확하고 감도가 높은 표면의 고해상도 이미지를 제작하도록 설계되었습니다. 이 현미경은 나노 스케일 (nanoscale) 수준에서 재료와 표면의 특성을 측정하는 데 사용됩니다. 최대 0.1 nm 해상도를 제공하는 2 축 포지셔닝 장비가 있으며, 몇 개의 앙스트롬 (Angstrom) 에서 최대 수 밀리미터 크기의 샘플을 이미징 할 수 있습니다. VEECO Nanoscope III에는 다양한 기능이 장착되어 있어 닫힌 루프 제어 시스템 (closed-loop Control system), 정밀 정렬 장치 (precision alignment unit), 고급 하드웨어 및 소프트웨어 기술 등 뛰어난 이미징 기능을 제공합니다. 고급 폐쇄 루프 제어 머신 (closed-loop control machine) 은 정확하고 자동 샘플 위치를 제공하고 드리프트 프리 (drift-free) 안정성을 유지하는 반면, 정렬 도구는 스캐닝 프로브를 사용하여 스캐닝 범위의 모든 점에서 샘플과 올바른 각도를 유지할 수 있습니다. 디지털 계측 NANOSCOPE III A는 "지형", "높이" 및 "마찰" 모드를 포함한 다양한 스캔 모드를 제공합니다. 지형 (Topography) 모드에서 스캐너는 하부 나노미터 해상도로 범프, 우울증 등 다양한 서피스 피쳐를 조사하는 데 사용됩니다. 높이 (Height) 모드에서 스캔 크기가 작은 영역으로 축소되고 피쳐의 특정 높이가 측정됩니다. 마찰 모드에서, 프로브의 끝은 표면 마찰을 측정하는 데 사용됩니다. Nanoscope III에는 현미경을 제어하고, 데이터를 수집하고, 결과를 분석 할 수있는 통합 소프트웨어 제품군 "Nanoscope Software" 가 장착되어 있습니다. 이 고급 이미징 소프트웨어는 광범위한 샘플 유형 (sample type), 이미징 방식 (imaging modality) 및 데이터 조작 기능을 처리 할 수 있습니다. VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS NANOSCOPE III A (VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS NANOSCOPE III III A) 는 다양한 액세서리를 제공하여 다양한 photodetector 옵션, 고급 스캔 프로브, 다중 조작레이터 및 샘플 준비 액세서리 선택 등 다양한 실험 응용 프로그램에 적합합니다. 또한, 이 현미경은 고급 데이터 획득 및 이미지 분석 (image analysis) 자산을 제공하여 데이터를 빠르고 정확하게 시각화, 저장, 분석할 수 있습니다. DIGITAL INSTRUMENTS/Digital Instrument NANOSCOPE III A는 나노 기술 분야의 연구원들에게 완벽한 솔루션으로, 나노 기술 응용 프로그램을위한 고해상도 이미징 및 고급 기능을 제공합니다. 이 최첨단 스캐닝 프로브 현미경은 나노 스케일 영상 및 재료 과학 연구에 이상적입니다.