판매용 중고 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope III #9300047

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS NANOSCOPE III (VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS NANOSCOPS III) 은 마이크로 및 나노 스케일에서 다양한 샘플의 특징을 충족시키기 위해 설계된 다용도 고성능 스캔 현미경 장비입니다. 이 시스템에는 직경 최대 5mm 의 샘플 조작을 위해 자동화된 3 축 스택이 있으며, 각 응용 프로그램에 맞게 조정할 수있는 다양한 탐지기, 레이저, 광학 목표가 있습니다. 원자 힘 현미경 (AFM), 스캐닝 터널링 현미경 (STM), 스캐닝 근거리 광학 현미경 (SNOM) 및 초점 형광 현미경 (CFM) 을 포함한 광범위한 이미징 기능을 통해 이미징이 필요한 사용자에게 완벽한 도구가됩니다. 표면 측정. VEECO 나노 스코프 III (VEECO Nanoscope III) 는 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스를 갖춘 15.4형 터치스크린을 통해 사용자가 현미경 설정을 빠르게 탐색하고 이미지를 캡처할 수 있도록 도와줍니다. 사용자 인터페이스는 단일 (single) 및 다중 (multiple) 샘플 (multiple) 조작 작업과 모두 호환되므로 예제 유형, 샘플 단계 및 다양한 스캔 모드를 쉽게 설정하고 선택할 수 있습니다. 자동 포커스 잠금 (Automated Focus Lock) 및 통합 포커싱 장치 (Integrated Focusing Unit) 는 사용자가 모든 깊이에서 샘플의 표면을 정확하게 측정할 수 있도록 합니다. DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope III는 "슈퍼 해상도" 모드에서 작동 할 수 있으며, 여기서 나노 미터 스케일 기능을 정확하게 해결할 수 있습니다. 또한 패턴 인식 (pattern recognition) 및 이미지 분석을위한 자동 머신 (automated machine) 을 통해 사용자가 나노 스케일 샘플에서 관심 영역을 빠르게 식별 할 수 있습니다. LSM (Advanced Line Scan Matrix) 기술은 샘플의 간섭없이 나노미터 스케일 패턴을 감지하고 측정 할 수 있습니다. 마지막으로, Nanoscope III의 개방형 아키텍처를 사용하면 타사 장치와 쉽게 통합하여 샘플 구성 및 환경 조건을 정량화할 수 있습니다. 결론적으로, VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope III는 나노 스케일 이미징 및 측정 자산에서 요구할 수있는 모든 기능과 기능을 갖춘 놀라운 현미경 도구입니다. 다양한 이미징 기능과 고급 (advanced) 기능을 통해 다양한 샘플의 나노미터 스케일 (nanometer-scale) 기능을 정확하게 측정하고 분석해야 하는 사용자에게 완벽한 툴이 됩니다. 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 와 패턴 인식 및 이미지 분석을 위한 자동화된 모델 (Automated Model) 은 사용이 간편하고 강력한 장비입니다.