판매용 중고 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope III #9276969

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope III는 풀 필드 나노 스케일 이미징 및 측정을 가능하게하는 고정밀 스캐닝 프로브 현미경 기술입니다. 환경 격리 (Environmental Isolation) 및 통합 광학 (Integrated Optics) 을 사용하여 반사 된 빛의 영향을 제거하고 더 선명한 이미지를 생성하는 멀티 레이어 하드 코팅이 특징입니다. VEECO Nanoscope III는 스캔 터널링 및 원자력 현미경 (AFM) 기술을 결합하여 사용자에게 나노 미터 수준까지 전례없는 해상도, 정확도 및 재생성을 제공합니다. MEMS 설계는 특정 응용 프로그램에 대해 시스템을 재구성하고 X, Y, Z 축의 스캐너 (scanner) 이동을 제어함으로써 최대 유연성을 제공합니다. 또한 예기치 않은 정확성으로 샘플 크기, 모양 및 거칠기를 측정 할 수 있습니다. 디지털 계측기 Nanoscope III에는 다양한 하드웨어 및 소프트웨어 옵션도 제공됩니다. 여기에는 동시 이미징을 위한 멀티 채널 스캐너, 손쉽게 볼 수 있는 고해상도 디스플레이, 높은 처리량 작업을 위한 로봇 동작 제어 (Robotic Motion Control) 등이 포함됩니다. 나노 스코프 III (Nanoscope III) 는 표면에 적용된 힘을 극도로 정확하게 결정할 수있는 민감한 힘 감지 시스템 (force-sensing system) 으로 설계되었다. 이 시스템은 또한 다양한 열 조건 하에서 샘플 서피스 (sample surface) 특성의 변화를 감지하고 측정하도록 설계되었습니다. 또한 재료의 특성을 원자 수준으로 측정 할 수도 있습니다. 이를 통해 사용자는 매우 정확하고 상세한 재료를 특성화할 수 있습니다. VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope III는 두 가지 별개의 작동 모드로 제조됩니다. 스캐닝 터널링 현미경 (STM) 및 원자 힘 현미경 (AFM). STM은 나노 스케일 (nanoscale) 기능을 가진 이미징 및 특성화 표면에 사용되며, AFM은 주로 샘플 표면 원자 사이의 힘을 측정하는 데 사용됩니다. VEECO Nanoscope III는 지형 매핑, 힘 매핑, 힘 분광법, 나노 연관 등을 포함한 여러 작동 모드도 지원합니다. 자동 열 제어 기능이 장착 된 DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope III는 최대 100nm의 온도 안정성을 유지할 수 있습니다. 이를 통해 연구원들은 극심한 온도 조건에서 재료의 행동을 측정, 이미지, 특성화할 수 있습니다. Nanoscope III는 고객의 고유한 요구를 충족하도록 설계되었습니다. 뛰어난 설계에는 인체 공학 프레임 구조 (ergonomic frame construction), 업그레이드 된 드라이브 시스템 (upgraded drive systems) 및 오늘날 시장에서 최고의 스캐닝 프로브 현미경 중 하나 인 다양한 고급 기능이 포함됩니다. 또한 다양한 전자 현미경 액세서리 및 시스템과 호환되며, 연구원들이 효율성을 극대화 할 수 있습니다.