판매용 중고 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS MMAFM-2 #293818153

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS MMAFM-2는 과학 계측의 글로벌 리더 인 VEECO Instruments Inc.에서 제조 한 AFM (Advanced Atomic Force Microscope) 입니다. 이 최첨단 현미경은 Atomic Force Microscopy의 정밀도와 Magnetic Force Microscopy의 다재다능성을 결합하여 연구원들이 나노 스케일의 물질 표면을 전례없는 디테일과 정확도로 탐험 할 수 있습니다. VEECO MMAFM-2 (VEECO MMAFM-2) 시스템의 핵심에는 고해상도 이미징 기능이 있으며, 이를 통해 표면 구조를 원자 수준으로 시각화 할 수 있습니다. 이것은 샘플 서피스를 나노 미터 정밀도로 스캔하는 날카로운 캔틸레버 팁 (sharp cantilever tip) 을 사용하여 달성되며, 표면 지형 및 재료 특성의 변형을 감지합니다. AFM 모드는 팁과 샘플 사이의 일정한 힘을 유지하는 피드백 (feedback) 메커니즘을 사용하여 지형 이미징 (topographical imaging) 을 제공하여 정확하고 인공물이 없는 이미징을 보장합니다. 지형 이미징 외에도 DIGITAL INSTRUMENTS MMAFM-2 현미경은 MFM (Magnetic Force Microscopy) 기능을 제공하여 샘플 표면의 자기 기능 및 도메인을 연구 할 수 있습니다. 자기장을 AFM 팁에 적용함으로써, 현미경은 팁과 샘플 사이의 자기 힘을 검출하여 나노 스케일 (nanoscale) 에서 자기 도메인, 도메인 벽, 자기 상호 작용을 시각화 할 수 있습니다. 이러한 듀얼 모드 기능을 통해 MMAFM-2는 자기 재료, 자기 나노 입자 및 자기 저장 장치를 연구하는 데 유용한 도구입니다. VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS MMAFM-2 현미경에는 안정적이고 진동이없는 스캐닝 플랫폼이 장착되어 있어, 장기간에 걸쳐 정확하고 반복 가능한 측정이 가능합니다. 이 시스템은 AFM 및 MFM 이미징 모드의 원활한 통합과 자동화된 데이터 획득 및 분석을 가능하게 하는 고급 전자 제품 (Advanced Electronics) 및 제어 소프트웨어 (Control Software) 를 갖추고 있습니다. 사용자 친화적 인 인터페이스는 이미징 매개변수, 스캔 설정, 데이터 처리 도구 (data processing tools) 를 직관적으로 제어할 수 있게 해 주므로, 연구원들이 최소한의 교육을 통해 고품질의 이미지와 데이터를 쉽게 얻을 수 있습니다. VEECO MMAFM-2 현미경의 주요 장점 중 하나는 광범위한 연구 응용에 대한 다용성과 적응성입니다. 생물학적 표본, 반도체 장치, 자기 "필름 ', 혹은" 나노물질' 을 연구 하든지 간 에 현미경 은 "나노스케일 '의 표면 형태, 물질 조성 및 자기 특성 에 대한 가치 있는 통찰력 을 제공 할 수 있다. 연구자들은 특정 연구 목표 및 실험 요구 사항에 맞게 이미징 모드, 스캔 매개변수 및 데이터 분석 도구를 사용자 정의할 수 있으며, DIGITAL INSTRUMENTS MMAFM-2 현미경은 나노 스케일 이미징 및 분석을위한 매우 다재다능하고 유연한 도구입니다. 전반적으로, MMAFM-2 현미경은 원자 및 나노 스케일 (nanoscale) 수준에서 물질을 탐색하고 이해하려는 연구자와 과학자들을위한 최첨단 솔루션을 나타냅니다. 첨단 이미징 기능, 정확한 제어 기능, 다목적 기능을 갖춘 현미경은 표면 형태, 재료 특성, 자기 상호 작용에 대한 탁월한 통찰력을 제공하여 재료 과학, 나노 기술, 자기 재료 연구 (magnetic materials research.