판매용 중고 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension #293637706

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 현미경은 재료 과학, 연구 및 제작에 사용되는 강력하고 다양한 이미징 도구입니다. 그것 은 연구가 들 에게 최대 5 "나노미터 '의 정밀도 로 기능 을 관찰 할 수 있는 능력 을 제공 하도록 설계 되었다. VEECO Dimension 현미경의 중심에는 5 축 단계가 있습니다. 이 단계는 3 축의 변환 및 2 축 스캐닝에 대한 정밀도 광학으로 표본 탐색 및 제어를 위한 플랫폼을 제공합니다. 이 단계의 정확한 제어는 3 차원의 공간에서 재료를 관찰 할 수 있습니다. DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 현미경에는 전동 24x 오브젝티브 렌즈가 장착되어 있으며, 최대 5nm의 해상도로 물체의 직접/비파괴적 이미징이 가능합니다. 또한 전송 된 조명 또는 입사된 조명 (TIRF 및 AFM) 으로 샘플을 관찰하기위한 2 개의 광학이 포함되어 있습니다. TIRF (Transmitted Light Microscope) 는 기존의 밝은 필드 이미징의 편리성을 제공하여 높은 명암과 넓은 시야를 제공합니다. 입사 광 현미경 (AFM) 은 대안을 제공하여 더 큰 이미징 디테일 및 나노 스케일 지형 매핑을 제공합니다. 치수 현미경은 또한 고속 속도로 이미지를 캡처 할 수 있습니다. 내장형 디지털 카메라와 빠른 프레임 속도 (Fast Frame Rate) 를 통해, 광학 한계를 초과하는 해상도와 속도로 이미지를 얻을 수 있습니다. 풀 필드 실시간 이미징 (full-field real-time imaging) 은 신속한 변화와 프로세스를 캡처하여 라이브 셀 및 시간 해결 이미징에 이상적인 솔루션입니다. VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 현미경은 3 차원 샘플을 동시에 분석 할 수 있으며, 이는 주사 전자 현미경 (SEM) 과 원자력 현미경 (AFM) 모두에 적합하다는 것을 의미합니다. SEM은 표면 거칠기가 높은 이미징 재료에 적합하며, 3 차원으로 샘플을 이미징 할 수 있습니다. AFM 은 보다 자세하게 제공할 수 있으며, 크기가 SEM 의 해상도 제한보다 작은 이미징 (imaging) 샘플에 적합합니다. VEECO Dimension 현미경은 사용하기 쉬운 그래픽 사용자 인터페이스를 자랑합니다. 즉, 간단한 작업을 통해 샘플 준비 및 이미징에 소요되는 시간을 줄일 수 있습니다. 또한, 이 소프트웨어에는 3D 이미지 분석을위한 다양한 템플릿 및 이미지 처리 기능이 포함되어 있습니다. 전반적으로 VEECO의 DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 현미경은 높은 수준의 다용도, 정밀도 및 편리성을 제공합니다. 다중 축 매핑, 고속 이미징, 3D 이미징 등의 정교한 기능이며, 사용자에게 친숙한 소프트웨어로이 현미경을 재료 과학 및 나노 기술 연구에 이상적인 도구로 만듭니다.