판매용 중고 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension V #293610275

VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension V
ID: 293610275
Atomic Force Profiler (AFP) Nanoscope V controller.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension V는 연구 및 산업 응용을 위해 설계된 다양한 스캐닝 터널링 현미경 (STM) 입니다. VEECO Dimension V는 연구 및 산업 재료에 대한 submicron 및 nanometer 스케일 연구를위한 고해상도 이미징 및 active-sample-mapping 기능을 제공합니다. DIGITAL INSTRUMENTS Dimension V는 다양한 기술을 사용하여 최대 0.09 nm 해상도의 샘플 이미지를 만듭니다. 여기에는 원자력 현미경 (AFM), 근거리 스캔 광학 현미경 (NSOM) 및 터널링 분광법이 포함됩니다. 이 스캐닝 터널링 현미경의 다기능 이미징 (multifrequency imaging) 기능을 통해 사용자는 다양한 샘플 특성을 관찰 할 수 있습니다. Dimension V는 이전 모델인 Dimension III와 유사한 STM 이미지에 대한 간섭도 감지 시스템을 사용합니다. CCD (Integrated Charge-Coupled Detector) 는 기존의 스캐닝 터널링 현미경보다 더 큰 시야각 이미징을 허용합니다. 현미경의 조작기 (manipulator) 는 사용자가 정밀하게 샘플을 적용하고, 기울이고, 회전시킬 수 있도록 합니다. 또한 다양한 유형의 재료를 빠르고 정확하게 이미징할 수있는 다중 주파수 컨트롤러 (Multi-Frequency Controller) 를 갖추고 있습니다. 또한 현미경은 표면 지형, 힘 거리 곡선 및 유전체 특성 (모두 명확성과 정밀도) 을 측정 할 수 있습니다. VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension V에는 샘플 조작 및 데이터 획득을위한 자동 루틴이 있습니다. 샘플 조작 및 스캔 결과에 대한 시각적 피드백이 현미경의 LCD 디스플레이에 표시됩니다. 또한, 프로세스 데이터를 컴퓨터에 저장하여 추가 분석을 용이하게 할 수 있습니다. 마지막으로 VEECO Dimension V에는 사용이 간편한 GUI (Graphical User Interface) 가 포함되어 있어 샘플의 이미지를 빠르게 보고, 분석하고, 조작할 수 있습니다. 또한 DIGITAL INSTRUMENTS Dimension V는 VEECO Portal 및 ImageJ를 포함한 다양한 소프트웨어와 호환됩니다. 결론적으로, Dimension V는 산업 및 연구 응용을 위해 설계된 매우 다양한 스캐닝 터널링 현미경입니다. 이 제품은 다양한 기술을 활용하여 고해상도 (high resolution) 에서 샘플의 이미지를 만들고, 정밀 힘을 위한 통합 조작기를 사용합니다. VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension V에는 샘플 조작을위한 자동 루틴, LCD 디스플레이의 시각적 피드백 및 이미지 보기, 분석 및 조작을위한 GUI가 있습니다.
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