판매용 중고 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 9000M #293587566

ID: 293587566
빈티지: 2000
Atomic Force Microscope (AFM) 2000 vintage.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 9000M은 다양한 표본 재료의 고해상도, 고대비 영상을 제공하도록 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 장비에는 FEG (Field Emission Gun) 전자가 장착되어 있어 특수 코팅 (Coating) 을 준비하지 않고도 고성능 해상도와 대비를 달성 할 수 있습니다. 가속 전압이 최대 200kV, 스팟 크기가 20nm 인 현미경은 10 nm (해상도) 까지 이미징 할 수 있습니다. 텅스텐 필라멘트 (tungsten filament) 전자 소스를 통해 기술자는 시스템의 분석 능력을 세밀하게 조정하여 현미경의 성능을 극대화 할 수 있습니다. 이 장치에는 전자 빔 (electron beam) 의 편향을 위해 자동으로 수정되고 매우 정확한 이미지를 생성하는 자동 검출기 (autodetector) 기능이 장착되어 있습니다. 표본 분석 측면에서 VEECO Dimension 9000M은 밝고 어두운 필드, 위상 대비, 고해상도 라인 스캔, 파장 분산 x- 선 분석 등 다양한 이미징 모드를 제공 할 수 있습니다. 같은 표본에서 영상을 위해 빛과 전자 빔 스펙트럼을 생성 할 수 있습니다. DIGITAL INSTRUMENTS DIMENSION 9000 M은 에너지 분산 분광법 (EDS) 기능을 통해 정확한 원소 구성 분석을 제공 할 수 있습니다. EDS 제품군을 사용하면 모든 표본의 원소 구성을 빠르고 쉽게 결정할 수 있습니다. 이 현미경에는 디지털 이미지 캡처 기능 (digital image capture feature) 이 장착되어 있어 이미지를 다양한 형식으로 저장한 다음, 쉽게 공유하거나 인쇄할 수 있습니다. 전체적으로 Dimension 9000M은 강력하지만 사용하기 쉽고 스캔 전자 현미경 기계를 나타냅니다. 자동 감지 기능 (auto-detection feature) 및 다중 이미징 모드와 함께 제공되는 고해상도 이미징 (high-resolution imaging) 기능을 통해 광범위한 표본을 정확하고 정확하게 분석 할 수 있습니다. 또한, EDS 기능은 정밀한 요소 구성 정보를 빠르고 쉽게 제공하며, 디지털 이미지 캡처 기능은 이미지 공유와 인쇄를 더욱 단순화합니다. 이를 통해 VEECO DIMENSION 9000 M은 최적의 표본 분석이 필요한 실습에 이상적인 선택입니다.
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