판매용 중고 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100V #9249374

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100V는 다양한 분야의 샘플을 심층적으로 분석하기 위해 특별히 설계된 고성능 스캐닝 프로브 현미경입니다. 이 현미경은 차세대 스캐닝 시스템 (Scanning System) 을 통해 광범위한 샘플과 영역에서 고해상도 (High Resolution) 데이터를 얻을 수 있습니다. 3100V는 원자 힘 (atomic force) 과 광학 현미경 (optical microscopy) 기술을 모두 사용하여 사용자가 샘플의 기능 및 서브 미크론 세부 사항에 액세스 할 수 있습니다. 최대 100nm (Tip Scan Range), 극단적인 신호 대 잡음 비율 및 고효율 광학 (Optic) 을 통해 자주 액세스 할 수없는 영역에서 고품질 데이터를 수집할 수 있습니다. VEECO Dimension 3100V는 몇 나노미터에서 수십 미크론까지 다양한 동적 스캔 해상도를 제공합니다. 이렇게 하면 서피스와 재료를 검사할 때 매우 세밀하게 캡처하고 분석할 수 있습니다. 또한, 시스템의 유연성과 고속 스캐닝 이미징 기능 (High Speed Scanning Imaging) 은 단일 실험에서 많은 샘플을 캡처하고 전통적인 현미경 방법에 비해 향상된 결과를 얻는 데 도움이됩니다. 3100V 에는 여러 가지 모드와 다양한 구성 요소 액세서리가 포함되어 있어 사용자 환경을 최적화합니다. 여러 현미경 기술을 지원하기 위해 전동 X-Y-Z 컨트롤러가 장착 된 통합 SEM 스테이지가 장착되어 있습니다. 또한, 액체 셀 홀더 (liquid cell holders) 와 틸터블 옵틱 (tiltable optic) 을 포함하여 다양한 프로브를 선택하면 사용자가 연구 중인 개별 샘플에 대한 기기를 사용자 정의할 수 있습니다. 3100V는 고대비 이미지와 정확한 데이터를 제공하도록 설계된 올인원 (All-In-One) 장치입니다. 고품질 데이터는 모든 범위의 자동 검색 (Automated Scanning), 구입 모드 자동화 (Acquisition Mode Automation) 를 통해 제공되며 이미지를 빠르고 정확하게 캡처할 수 있습니다. 고속 스캔 (High Speed Scanning) 및 자동화 (Automated) 작업을 통해 산업 어플리케이션을 위한 높은 처리량 시스템을 구축할 수 있습니다. 결론적으로, DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100V는 사용자가 액세스 할 수없는 영역에서 데이터를 얻을 수있는 기능을 제공하는 고도의 현미경입니다. 이 현미경은 전동화된 X-Y-Z 컨트롤러와 다중 모드 (multiple mode) 및 컴포넌트 액세서리 (component accessory) 를 통해 개별 요구에 맞게 사용자 정의할 수 있습니다. 3100V 는 또한 고속 스캐닝 (Scanning) 프로세스를 지원하여 사용자 고대비 이미지, 정확한 데이터, 그리고 산업 어플리케이션에 최적화된 높은 처리량을 제공합니다.