판매용 중고 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9364489

ID: 9364489
Atomic Force Microscope (AFM) Stage movement X and Y: 150 mm With 2 micron resolution Micron area viewing video optics: 150 - 675 Zoom Piezo scan head range: X and Y: 90 Micron Z: 6 Micron Sub nanometer resolution: 16 Bits DAC Sample image size: Maximum 512 x 512 AFM Contact and tapping mode Conductive AFM STM Liquid cell Table and hood included Does not include controller.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100은 과학 연구에 사용되는 고속 스캐닝 프로브 현미경 (SPM) 입니다. 나노 스케일 (nanoscale) 에서 표면과 재료의 이미징 및 조작을 위해 설계되었습니다. VEECO Dimension 3100 (VEECO Dimension 3100) 은 프로브와 표면의 상호 작용을 원자 수준까지 제어하고 측정하는 고유한 능력을 통해 전례없는 해상도와 정확도를 달성할 수 있습니다. 이미징, 분광법, 힘 측정 및 조작에 대한 나노 미터 스케일 제어를 제공합니다. DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100에는 대규모 대화식 X-Y 스테이지와 함께 비 접촉 AFM (원자력 현미경) 구성이 있습니다. 이 구성을 통해 현미경은 미세한 표면 지형을 측정하고 정적 (static) 현상과 동적 (dynamic) 표면 현상을 모두 특성화할 수 있습니다. 또한 SPM은 공기 환경과 유체 환경 모두에서 작동 할 수 있습니다. Dimension 3100에는 EFM (Electric Force Microscopy), EPM (Electric Potential Microscopy), CAFM (Conductive Atomic Force Microscopy) 및 KPFM (Kelvin Probe force Microscopy) 과 같은 복잡한 작동이 가능한 고급 이미징 장비 장비가 있습니다. 또한 지형, 표면 및 3 차원 이미징과 같은 강력한 이미징 모드 트리오가 있습니다. 해상도 측면에서 VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100은 z 방향으로 0.5nm을 달성 할 수 있으며, 이는 다른 시스템에 비해 측정 및 조작 기능을 향상시킵니다. 또한, 압전 결합 된 피드백 루프 스캐닝 시스템은 데이터 품질을 크게 향상시키고, 소음을 줄여, 측정을 더욱 안정적입니다. 또한 VEECO Dimension 3100 (VEECO Dimension 3100) 은 빠른 속도로 많은 데이터를 수집할 수 있는 병렬 처리 장치 (Parallel Processing Unit) 를 제공하여 사용자가 나노 구조를 신속하게 조사 할 수 있도록 합니다. 이 기계는 또한 사용자가 여러 실험을 동시에 수행할 수 있게 해 주며, 이를 통해 보다 효율적이고 생산성을 높일 수 있습니다. 결론적으로, DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100은 나노 스케일에서 높은 수준의 이미징, 특성 및 조작 기능이 필요한 과학자와 연구자에게 귀중한 도구입니다. 고유한 기능과 기능을 갖춘 Dimension 3100 (Dimension 3100) 은 표면 측정 및 조작에 탁월한 수준의 정확성과 제어를 제공합니다.
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