판매용 중고 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #293827699

ID: 293827699
Atomic Force Microscope (AFM) Silicon Carbide (SiC).
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100은 다양한 응용 분야에서 사용하도록 설계된 최첨단 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 강력한 현장 방출 총 (Field Emission Gun) 과 첨단 이미징 (High-Tech Imaging) 및 분석 기능을 통해 사용자가 탁월한 디테일로 샘플을 조사 할 수 있습니다. 3100 은 다양한 SEM 이미징 모드에서 탁월한 성능을 제공하는 독보적인 설계입니다. 전계 방출 총 (field emission gun) 설계를 사용하면 대부분의 기존 전자 현미경보다 신호 대 잡음 비율이 높아져 샘플의 이미지가 더 분명해집니다. 또한, 전자 광학은 신호 해상도를 극대화하고 정밀도로 전자를 관리하도록 설계되었습니다. 따라서 샘플에 대한 세부 사항 중 가장 작은 세부 사항 (details) 도 눈부신 정밀도로 보고 조작 할 수 있습니다. 또한 3100 은 사용자 지정 가능한 샘플 (sample) 단계를 갖추고 있어 여러 각도에서 샘플을 볼 수 있습니다. 또한, 샘플 스테이지는 그레인 구조 (grain structure) 및 서피스 피쳐 (surface features) 와 같은 피쳐의 분석을 위해 샘플의 기울기 및 회전을 허용합니다. 고급 기능을 사용하면 세라믹, 금속, 미네랄과 같은 거친 재료를 고해상도 이미징할 수 있습니다. 3100의 고급 이미징 (Advanced Imaging) 기능은 개별 기본 설정에 맞게 조정할 수 있는 다양한 자동 이미징 옵션을 제공합니다. 또한 수동 (manual) 컨트롤도 제공되어 nanoscale 수준에서 쉽게 샘플을 탐색 할 수 있습니다. 또한 3100에는 EDS (Integrated Energy Dispersive Spectroscopy) 기능이 장착되어 있어 샘플 구성을 빠르고 정확하게 분석 할 수 있습니다. VEECO Dimension 3100은 광범위한 과학 어플리케이션에 이상적인 선택입니다. 강력한 현장 방출 총 (Field Emission Gun), 고해상도 이미징 (High-Resolution Imaging) 기능, 자동화된 기능을 통해 가장 상세한 샘플의 이미지를 정확하게 필요로 하는 사용자에게 이상적인 선택이 가능합니다. 또한, 완전히 사용자 정의 가능한 샘플 스테이지 및 통합 EDS (Integrated EDS) 기능을 통해 사용자는 샘플에 더 깊이 파고 화학적 조성을 탐색할 수 있습니다. DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100은 나노 스케일 세계를 탐험하려는 사용자에게 이상적인 선택입니다.
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