판매용 중고 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #293768331
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ID: 293768331
Atomic Force Microscope (AFM)
PC
Nanoscope Va
Hard Disk Drive (HDD)
Operating system: Windows 10.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100은 금속 및 재료 과학 응용 분야를 위해 특별히 설계된 고성능 스캔 전자 현미경 (SEM) 장비입니다. 이 강력한 현미경은 금속의 큰 곡물에서 나노 미터 규모의 전기 광학 장치 (nanometer-scale electro-optic device) 에 이르기까지 다양한 샘플을 이미징 할 수 있습니다. VEECO Dimension 3100은 2 차 전자 스캔, 역 산란 전자 영상, cathodoluminescence 및 XEDS (x-ray energy-dispersive spectroscopy) 를 포함한 여러 이미징 기술의 조합을 사용합니다. 표본 이미징 및 분석에 최적화된 "백라이닝 (back-thinning) '시스템은 높은 수준의 이미지 해상도와 정확도를 제공합니다. 또한, 다중 모드 검출기를 사용하면 고감도 이미징 (high-sensitivity imaging) 이 가능하므로 샘플 서피스에서 복잡한 세부 정보가 드러날 수 있습니다. 디지털 계측기 (DIGITAL INSTRUMENTS) Dimension 3100 현미경은 단단한 디자인과 진동 감쇠식 베이스로 구성되어 이미지의 안정성과 정확성을 보장합니다. 현미경은 원래 크기의 최대 300,000 배까지 샘플을 확대 할 수 있습니다. 견고한 카메라 장치 덕분에 x 방향과 y 방향 모두에서 최대 1 nm (해상도) 의 이미지를 캡처할 수 있습니다. 또한, 카메라 머신에는 컬러 프로파일 (color profile) 기능이 장착되어 있어 샘플에 대한 보다 정확하고 상세한 분석이 가능합니다. 또한 유사한 샘플 간의 미세한 차이를 감지하는 데 사용할 수 있습니다. Dimension 3100 은 빠르고 효율적인 분석 소프트웨어 패키지로, 이미징을 위한 표본을 준비할 때, 사용자에게 실시간 운영 피드백을 제공합니다. 이 소프트웨어 패키지에는 자동 제어 (automated controls), 측정 기능, 사전 설계된 설정의 라이브러리 등 다양한 기능이 들어 있습니다. 이 모든 것을 통해 사용자는 준비하는 데 소요되는 시간이 적어지고, 이미지 분석에 더 많은 시간이 소요될 수 있습니다. VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100은 신뢰할 수 있고, 정확하며, 다양한 스캐닝 전자 현미경으로, 사용자에게 강력한 이미징 기술 조합을 제공합니다. 강력한 사용자 친화적 소프트웨어 패키지와 결합된 고해상도 (High Level of Resolution) 기능을 통해 다양한 업종과 어플리케이션에서 사용할 수 있습니다.
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