판매용 중고 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #293768328

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100은 나노 스케일 재료의 고해상도 이미징을 제공하는 AFM (Atomic Force Microscope) 입니다. 이 현미경은 고해상도 이미징 기능과 자동 스캐닝 (Scanning) 기능을 결합하여 정확하고 안정적인 데이터를 신속하게 생성합니다. 이 현미경은 피드백 루프 (feedback loop) 를 사용하여 스캔 과정에서 캔틸레버가 샘플과 지속적으로 접촉하여 정확한 이미징 및 신뢰할 수있는 데이터를 생성합니다. 이 접근 방식은 진동을 줄이고 정확성을 향상시킵니다. VEECO Dimension 3100 (VEECO Dimension 3100) 은 필요한 해상도를 제공하면서도 몇 분 안에 샘플을 스캔할 수 있는 고속 스캐너를 갖추고 있습니다. 스캐너는 최대 2.5m x 2.5m (2.5m) 의 샘플 영역을 스캔할 수 있으며, 다른 감지 옵션으로 사용자 정의 할 수 있습니다. 스캐너에는 자동 교정 (calibration) 주기가 있으므로 스캔이 일관되고 반복 가능합니다. 또한 "스캐너 '에는 액체 환경 과 조종 된 대기 중 에 영상 을 볼 수 있는 통합 유체 위상 장비 가 있다. 현미경은 VEECO/DI의 특허를받은 True Non-Contact Scanning Technology와 "Cantileverless" 디자인 옵션을 사용하여 캔틸레버가 필요하지 않은 이미지 샘플을 사용합니다. 이 기술을 통해 캔틸레버 튜닝 (cantilever tuning) 또는 추가 하드웨어 없이도 유기 및 무기 샘플을 다용도 이미징할 수 있습니다. 또한, 현미경은 무 터치 AFM, 태핑 모드 AFM 및 강제 변조 이미징 기능으로 스캐닝을 수행 할 수 있습니다. DIGITAL INSTRUMENTS/DI DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100은 다양한 응용 프로그램 환경에서 작동 할 수있는 다목적 AFM 검사 시스템입니다. 나노 재료의 AFM 이미징을위한 강력하고 사용하기 쉬운 장치입니다. 이 기계에는 사용자 정의 데이터 획득 및 데이터 분석을위한 도구가 포함되어 있습니다. 또한 '자체' 환경을 구성할 수 있으므로 '도구' 를 최대한 활용할 수 있습니다. 에셋은 또한 사용자의 특정 요구에 맞는 조합을 만들기 위해 다른 계측기 (예: 광학 현미경 또는 초점 계측기) 와 연결할 수 있습니다. 이 모델은 비용 효율적이고 안정적인 방법으로 나노스케일 (nanoscale) 소재의 고해상도 이미지를 얻을 수 있습니다.