판매용 중고 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #293765965

VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100
ID: 293765965
Atomic Force Microscope (AFM).
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100은 나노 스케일에서 작동하도록 설계된 스캔 프로브 현미경입니다. 이 강력한 도구는 연구, 분석 및 재료 특성에 사용됩니다. 원자력 현미경 (AFM) 과 주사 터널링 현미경 (STM) 기능을 모두 갖추고 있으며 나노 미터 척도에서 표면의 고해상도 이미징을 할 수 있습니다. VEECO Dimension 3100은 뛰어난 이미징 기능과 분석 기능을 모두 제공합니다. 강력한 닫힌 루프 XY 및 Z 샘플 스캐너를 가지고 있으므로 정확하고 조정 가능한 팁 샘플 스캔이 가능합니다. 이 샘플은 전동 플렉서 기반 단계를 사용하여 자동으로 정확하게 배치됩니다. 자동 팁 스캔 시퀀스 및 STM/AFM 이미징 모드를 사용하여 고해상도 이미지가 생성됩니다. 현미경은 3D 샘플의 전기 특성을 측정하기 위해 Z 높이 감지 기술 (Z height sensing technology) 을 갖추고 있으며, 정밀도가 높은 표면 특성을 허용합니다. 열 스캔, 자동 스캔 패턴 최적화, 다양한 이미지 필터링 옵션 등이 있습니다. 또한 자동화된 팁 추적이 가능한 "TRACK" 기능도 포함되어 있습니다. 이 기능은 최소 사용자 개입 (user intervention) 을 통해 샘플 표면에서 나노 구조를 찾기, 이미징 및 스테퍼 추적 (stepper tracing) 하는 자동화된 접근 방식을 제공합니다. DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100에는 가스 흐름 라인 모듈 (gas flow line module) 과 압력 제어 모듈 (pressure control module) 과 같은 다양한 환경 제어 모듈이 장착되어 있어 가스 및 액체 환경 모두에서 측정이 가능합니다. 또한, 현미경은 또한 동시에 작동 할 수있는 2 개의 독립 채널 (independent channel) 로 이중 채널 작동이 가능하다. 이 현미경은 데이터 획득, 이미지 처리 및 분석 도구를 제공하는 Windows 기반 소프트웨어에서 지원됩니다. Windows 기반 소프트웨어를 사용하면 신속한 데이터 수집 설정 및 이미지 분석을 수행할 수 있습니다. 사용자는 위상 이미징 (phase imaging), 형태 인식 (shape recognition), 측면 힘 (lateral force) 과 같은 기능이 내장된 이미지 데이터를 분석할 수 있습니다. 또한 Dimension 3100에는 다양한 액세서리가 장착되어 있어 샘플 준비, 스캔, 특성화가 용이합니다. 반도체, 폴리머 및 유기 물질, 생체 물질, 단백질, DNA 및 기타 생체 분자와 같은 다양한 물질을 특성화하는 데 사용될 수 있습니다. 이 다목적 현미경은 나노 스케일 (nanoscale) 의 재료의 연구, 분석 및 특성에 사용되는 데 매우 적합합니다.
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