판매용 중고 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #293633028

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100은 나노 스케일 연구를 위해 특별히 설계된 고성능 스캐닝 프로브 현미경 (SPM) 입니다. 나노 기술 (nanotechnology) 과 재료 과학 응용 분야에 이상적이며, 연구원들이 나노 스케일 (nanoscale) 수준에서 샘플을 이미지와 분석할 수 있습니다. VEECO Dimension 3100에는 강력한 소프트웨어 패키지가 포함되어 있어, 샘플을 준비하고, 이미지를 수집하고, 데이터를 분석할 수 있습니다. 동력 X-Y 스캐너와 동력 Z-piezo (다양한 고해상도 이미지를 얻는 데 필요한 두 가지 구성 요소) 가 특징입니다. X-Y 스캐너는 제어 범위 8mm x 8mm를 제공하며 임피던스 매칭 piezo는 Z에서 0.1 나노 미터의 정확도를 제공합니다. 샘플을 이미징 및 분석하는 경우 DIGITAL INSTRUMENTS 3100은 다양한 이미징 모드를 제공합니다. 여기에는 접촉 모드, 비접촉 모드 및 탭핑 모드가 포함됩니다. 접촉 (Contact) 모드는 하드 재료 이미징, 소프트 서피스 이미징 비 접촉 모드, 재료 기계적 특성 측정용 탭핑 모드에 사용됩니다. 또한 Dimension 3100에는 추가 분석 가능성을 위해 confocal 모드 및 Kelvin Probe Force 현미경과 같은 옵션이 있습니다. VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100의 광역학 시스템은 사용자에게 뛰어난 샘플 처리 기능도 제공합니다. 자동 초점, 스티그메이터 컨트롤, 통합 드라이브 시스템을 갖춘 스테이지 컨트롤러 (Stage Controller) 가 특징입니다. 초점 제어는 전동화되어 있으며 0.1 나노 미터의 정확도로 설정 될 수 있습니다. 스티그메이터 (stigmator) 컨트롤을 사용하면 최적의 초점을 유지하면서 샘플의 xz 및 yz 기울기를 빠르게 조정할 수 있습니다. 스테이지 컨트롤러를 사용하면 Z 방향을 기준으로 샘플 방향을 미세 조정할 수 있습니다. VEECO Dimension 3100에는 다양한 목표가 있습니다. 이러한 목표는 50 배에서 1000 배에 이르며 연구원들에게 뛰어난 해상도를 제공합니다. 가변 배율 (Variable Magnification) 및 오브젝티브 렌즈 (Objective Lense) 를 사용하면 각 샘플 유형에 대해 항상 최상의 이미지를 얻을 수 있습니다. 이 목표는 분광학, 태양 광 분석, 켈빈 프로브 포스 현미경 (Kelvin Probe Force Microscopy), 나놀리 토그래피 등과 같은 광범위한 분석가와도 호환됩니다. 전체적으로 DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100은 매우 고급적이고 강력한 스캐닝 프로브 현미경으로, 연구원은 뛰어난 수준의 이미지 품질, 해상도 및 분석 기능을 제공합니다. 나노 스케일 (Nanoscale) 에서 재료를 탐색하는 데 이상적인 도구이며, 연구자들은 이전에 불가능했던 특성을 관찰하고 측정 할 수있는 기회를 제공합니다.