판매용 중고 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #293590378

VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100
ID: 293590378
Atomic Force Microscope (AFM).
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100은 반도체, 금속, 플라스틱 및 컴포지트를 포함한 다양한 재료의 이미징 및 원소 분석을 위해 설계된 고성능 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 기기의 최첨단 설계는 전자 빔을 직접 제어하여 탁월한 해상도, 높은 확대, 향상된 현장 심도 대비 (depth of field contrast) 를 달성할 수 있습니다. VEECO Dimension 3100은 전자 빔을 사용하여 최대 45.5kV의 샘플 이미지를 생성하는 ultrahigh 진공 SEM입니다. 이 기기는 On-column Schottky electron gun을 사용하여 안정적인 성능을 보장하고 작동 중 물 및 기타 물질을 전자 렌즈에 응축시키는 것을 방지합니다. 긴 상호 작용 길이로, 3100은 1nm에서 500,000x까지 높은 확대 이미지를 달성 할 수 있습니다. 향상된 이미지 품질, 저소음 작업, 향상된 3D 정보를 위한 명암비 (contrast) 및 신호 처리 (signal processing) 기능을 통해 기기의 이미징 기능이 더욱 향상되었습니다. DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100은 또한 표본의 원소 매핑 및 분석을 위해 광범위한 에너지 분산 x- 선 분광법 (EDS) 및 스캐닝 전자 회절 (SED) 분석을 제공합니다. 이 장치에는 디지털 세분화 (digital segmentation), 컬러 이미징 (color imaging) 및 다양한 디지털 필터링 기법을 적용하기 위해 고급 디지털 이미징 시스템이 포함되어 있습니다. 많은 이미징 기능 외에도 3100은 비접촉 서피스 프로파일링, 프로파일로메트리, x-ray 매핑 등 다양한 비접촉 측정 옵션을 제공합니다. Dimension 3100은 고온, 진공, 습도, 오염 등 다양한 혹독하고 적대적인 환경에서 작동하도록 설계되었습니다. 이 기기는 환경 적으로 밀봉되어 있으며 Class 1 청소 실 요구 사항을 충족하여 오래 지속되고 신뢰할 수 있습니다. 신뢰할 수 있는 고성능 스캔 전자 현미경을 찾는 사용자에게 VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100은 이상적인 솔루션입니다.
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