판매용 중고 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #293585800

ID: 293585800
빈티지: 2003
Atomic Force Microscope (AFM) 2003 vintage.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100은 고성능 스캐닝 프로브 현미경 (SPM) 입니다. 광범위한 산업에서 다양한 지형, 전기, 재료 특성 (characterization) 애플리케이션에 적합합니다. VEECO Dimension 3100은 SPM, 컨택트 모드 이미징 및 AFM (원자력 현미경) 을 결합하여 고해상도, 정량적 데이터 획득 및 이미징 기능을 사용하며, 반복 가능한 드리프트 보정과 고속 곡선 스캔 방법을 통합합니다. 이는 유기 (organic) 및 무기 (organic) 물질을 포함한 다양한 재료에 대한 고해상도 이미지와 실시간 디스플레이 기능을 제공합니다. 이 기기는 250 ~ 5000äm 범위의 큰 샘플 크기, 0.1 ~ 150 äm/s의 다양한 스캔 속도 및 최대 10-10 바의 진공 호환성을 특징으로합니다. 이는 높은 수준의 정확성을 유지하면서 향상된 분석 기능을 제공합니다. 또한 DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100은 향상된 감도와 함께 향상된 이미징 및 데이터 획득 속도를 제공합니다. 이 현미경은 반도체 (반도체) 와 생명과학 (생명과학) 샘플을 포함한 모든 종류의 샘플에 대한 데이터를 수집할 수 있는데, 이는 중대형 (MID), 고진공모드 (High Vacuum Mode) 기능 때문이다. 또한, 현미경은 마찰 반전을 특징으로하며, 이는 스텝 (steps) 이나 그루브 (groove) 와 같은 지형 변이가 높은 표면의 세부 이미지를 가능하게하여 나노 스케일까지 샘플의 특성을 높일 수 있습니다. 또한 자동 스캐닝 (automated scanning) 모드를 제공합니다. 이를 통해 사용자는 복제 가능한 방식으로 샘플을 스캔할 수 있습니다. 간단한 Probe Exchange 시스템을 구축하면 다른 Probe 팁을 빠르고 쉽게 전환할 수 있습니다. 사용자 정의 측면에서 Dimension 3100에는 두 가지 소프트웨어 언어 (기존 Win32 응용 프로그램 프로그래밍 인터페이스, 학습과 수정이 용이함) 와 새로운 오픈 소스 스크립팅 언어 (open-source scripting language) 가 포함되어 있어 사용자 정의 측정 스크립트를 독립적으로 개발할 수 있습니다. 마지막으로, 이 장치에는 진공 척 (vacuum chuck), 온도 컨트롤러 (temperature controller) 및 장기 드리프트 보정 장치 (long-term drift correction device) 와 같은 다양한 액세서리가 포함되어 있습니다. 전반적으로 VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100은 강력하고 다기능 스캐닝 프로브 현미경으로, 광범위한 재료에 대한 고해상도 이미징 및 정량적 데이터 획득을 제공하도록 설계되었습니다. 여기에는 마찰 반전, 자동 스캐닝 모드 (Automated Scanning Mode), 빠른 스캔 속도 (Fast Scan Speed), 간단한 Probe Exchange 시스템 등 다양한 기능이 통합되어 있어 다양한 샘플을 정확하게 특성화하고 분석할 수 있습니다.
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