판매용 중고 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS D3100V #9236335

ID: 9236335
Atomic force microscope.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS D3100V는 높은 정밀 이미징, 온도 분석 및 매우 정확한 표면 처리 기능을 제공하는 산업 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 기둥은 기기의 가열, 코팅 및 분석 챔버와 분리 된 밀봉 된 전자 광학 기둥 (column construction) 을 가지고 있어 매우 높은 진공 환경에서 작동 할 수 있습니다. 이 특수 기능을 통해 현미경은 고해상도 이미징 (high resolution imaging) 을 달성하는 한편, 샘플의 수동 코팅이 필요하지 않습니다. VEECO D3100V는 듀얼 축 디지털 확대/축소 기능을 통해 5nm 해상도로 최대 15배까지 확대할 수 있습니다. 현미경의 영상 시스템 (imaging system) 은 시료에 의한 전자의 흡수를 이용하는 신틸레이터 검출기 (scintillator detector) 를 사용하여 신호 강화 된 이미지를 생성합니다. 또한, 신호는 조사중인 고강도 전자원에서 표본으로 향한다. 디지털 인스트루먼트 (DIGITAL INSTRUMENTS) D3100V에는 EDX 및 EBSD를 포함한 표면 특성화를위한 광범위한 자동 액세서리와 확장 된 동적 범위의 신호 처리 기능이 장착되어 있습니다. 이를 통해 원소 및 결정 학적 분석뿐만 아니라, 3 차원에서 샘플 표면 지형의 높은 정확도를 측정 할 수 있습니다. D3100V는 또한 SLFM (Scanning Lateral Force Microscopy) 을 포함한 고급 이미징이 가능합니다. 또한 VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS D3100V에는 높은 처리량 샘플 스테이징 및 자동 로드 및 언로드가 있습니다. 자동 기울기 단계 (automatic tilt stage) 를 통해 넓은 영역 이미지를 수집하고 균질하지 않은 샘플의 단면 평면을 관찰 할 수 있습니다. 현미경의 자동 제어 시스템 (automated control system) 은 사용자가 반복 검사를 요청할 수 있도록 허용하면서 변동성을 보장합니다. VEECO D3100V 는 직관적인 GUI (Graphical User Interface) 를 표시하여 사용자가 최소한의 교육으로 시스템을 운영할 수 있도록 합니다. 데이터 취득, 분석, 보고서 작성 기능이 패키지에 통합되어 숙련된 사용자가 DIGITAL INSTRUMENTS D3100V 와 신속하게 연동할 수 있습니다. 전반적으로, D3100V는 뛰어난 해상도, 자동 액세서리, 광범위한 이미징 방법을 제공하는 강력한 SEM 제품입니다. 자동화된 컴포넌트 (automated component) 와 정교한 사용자 인터페이스 (sophisticated user interface) 의 고급 조합을 통해 사용자는 샘플의 본질에 대한 새로운 통찰력을 얻고 최소한의 노력으로 높은 정밀도를 측정할 수 있습니다.
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