판매용 중고 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS CP-II CP 0100 #9233894

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS CP-II CP 0100은 Atomic Force Microscopy (AFM) 및 스캐닝 터널링 현미경 (STM) 을 위해 설계된 고급 연구 현미경입니다. VEECO CP-II CP 0100의 빠른 스캔 속도는 최대 25Hz이며, 이를 통해 연구원은 재질 샘플을 빠르고 정확하게 스캔 할 수 있습니다. DIGITAL INSTRUMENTS CP-II CP 0100에는 폐쇄 루프 스캔 및 피드백 장비가 있습니다. 이 시스템은 스캔 헤드 (scan head) 의 위치를 모니터링하여 가장 빠른 스캔 속도에서도 정확한 움직임을 보장합니다. 이 현미경에는 반복 측정을 위해 잠글 수있는 샘플 홀더 (sample holder) 가 장착되어 분석의 일관성이 향상되었습니다. CP-II CP 0100은 대형 컨주게이트 오브젝티브 렌즈를 특징으로하며, 이를 통해 현미경은 고해상도 이미지를 획득하고 샘플을 정확하게 측정 할 수 있습니다. 현미경에는 독점적 인 '데이터 뱅크 (data-bank)' 가 있는데, 이를 통해 사용자는 서로 다른 샘플 세트 간에 데이터를 빠르고 정확하게 저장, 리콜 및 비교할 수 있습니다. 이 현미경에는 최첨단 전자 패키지가 장착되어 있습니다. 뛰어난 신호 대 소음 비율을 위해 높은 전력과 낮은 소음 증폭기를 가지고 있습니다. 또한 광범위한 트랜스듀서 (transducer) 를 장착하여 사용자가 온도, 습도, 전류 (electrical current) 와 같은 다양한 매개변수를 고려하여 데이터를 정확하게 얻을 수 있습니다. VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS CP-II CP 0100에는 사용자에게 필요한 설정을 쉽게 선택할 수 있는 우아한 사용자 인터페이스가 있습니다. 인터페이스에는 샘플 (예: 지형 이미지, 힘 분광법 곡선, 스펙트럼) 에서 얻은 측정에 대한 자세한 정보도 표시됩니다. 현미경은 단단하면서도 경량 (lightweight) 프레임으로 만들어져 있어 길고 정확한 스캐닝 (scanning) 작업에 탁월한 안정성을 제공합니다. 현미경에는 XY 주사 장치 (XY scanning unit) 와 진공실 (vacuum chamber) 이 내장되어 있어 대기 효과로부터 샘플을 보호하므로 가장 어려운 조건에서도 정확한 측정이 가능합니다. 요약하면, VEECO CP-II CP 0100은 AFM (Atomic Force Microscopy) 및 STM (Scanning Tunneling Microscopy) 을 위해 설계된 고급 연구 현미경입니다. 최대 25Hz의 빠른 스캔 속도를 제공하며 고해상도 컨주게이트 오브젝티브 렌즈가 있습니다. 닫힌 루프 피드백 머신, 정보 저장용 데이터 뱅크, 다양한 트랜스듀서, 우아한 사용자 인터페이스 등이 있습니다. 이 현미경은 광범위한 응용 분야에서 연구하기에 적합합니다.