판매용 중고 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS / BRUKER Nanoscope IIIa #9362958

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS/BRUKER Nanoscope IIa는 원자 해상도로 표면 측정 및 영상을 위해 설계된 스캐닝 터널링 현미경 (STM) 입니다. 표면을 2.5 옹스트롬 (angstrom) 까지 이미징 할 수 있으며, 이를 통해 원자 스케일 피쳐를 캡처하고 그 구조 또는 형태를 분석 할 수 있습니다. VEECO 나노 스코프 III (VEECO Nanoscope III) 는 샘플이 이미징 영역에있는 동안 온도와 압력을 모두 제어하는 통합 환경 챔버를 특징으로합니다. 환경실 (Environmental Chamber) 은 작동 중 샘플이 잘 보존되어 현미경이 가능한 최고 품질의 이미지를 캡처 할 수 있도록 합니다. BRUKER Nanoscope IIIa에는 맞춤형 모터 드라이브 시스템도 있습니다. 이 시스템은 현미경의 z축 위치를 정확하게 제어하여 샘플의 표면을 정확하게 이미지 (image) 할 수 있습니다. 고동적 (High-Dynamic) 범위 감지 기능을 통해 디테일 손실 없이 대규모 이미징 (Migrate Imaging) 을 수행할 수 있으므로 다수의 샘플에 대한 데이터를 단일 작업으로 얻을 수 있습니다. 또한, 이미지 처리 기능과 완벽한 스펙트럼 및 이미지 처리 도구 (Spectral and Imaging Tools) 로 향상된 이미지 해상도를 제공합니다. DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope IIA은 '스크래치 오프 (scratch-off)' 표면 이미징 기술을 사용합니다. 즉, 샘플의 부드러운 표면이 지속적으로 스캔되고 제거 된 후 맑고 세밀 한 곡물 이미지를 만듭니다. 이를 통해 현미경은 표면 (surface) 피쳐로 인한 디테일 (detail) 이나 간섭 (interference) 이 없어도 고화질 이미지를 캡처할 수 있습니다. 또한, 나노 스코프 III (Nanoscope III) 는 조정 가능한 시야를 제공하여 샘플의 특정 영역에 집중할 수 있으며, 데이터 획득 속도를 통해 빠르고 신뢰할 수 있습니다. 더욱이, 이 현미경에는 고급 간섭법 (interferometry) 기술이 적용되어 측정 정확도를 높이는 데 도움이됩니다. VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS/BRUKER Nanoscope IIa는 또한 파장 이미징 시스템, 광전자 분광학, 지형 나노 분석과 같은 다양한 추가 시스템에 쉽게 적응할 수 있으며, 광범위한 응용 분야를 허용합니다. 전반적으로, VEECO Nanoscope IIIa는 원자 해상도로 표면의 정확한 영상을 제공하는 고급 스캐닝 터널링 현미경입니다. 통합 환경 실 (Environmental Chamber), 커스텀 모터 드라이브 시스템 (Custom Motor Drive System) 및 고급 간섭 기술 (Advanced Interferometry Technies) 을 통해 표면을 가장 정확도로 연구하거나 분석하려는 사람들에게 이상적인 선택이 가능합니다.