판매용 중고 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS AFM 3100-S #9185660

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS AFM 3100-S는 탁월한 해상도, 민감도, 정확도 및 사용 편의성을 제공하는 고급 AFM (Advanced Atomic Force Microscope) 입니다. AFM은 나노 미터 척도에서 이미징, 접촉 및 비 접촉 측정, 조작 및 다양한 재료의 특성화와 같은 응용 분야에 사용됩니다. 이 모델에는 다양한 기능과 기능이 포함되어 있습니다. VEECO AFM 3100-S는 나노 스케일 이미징, 나노 스케일 오브젝트 조작 및 스캐닝 프로브 기반 나노 스테인런스를 제공하도록 설계되었습니다. 현미경에는 고속, 나노 미터 해상도 스캔 및 표면 프로파일 기능을 위해 Cantilever 및 Piezo 스테이지가 장착되어 있습니다. 또한 실시간 열 드리프트 보상 시스템 (thermal drift compensation system) 을 갖추고 있습니다. 이 시스템은 열 드리프트로 인한 이미지 아티팩트를 줄이고 온도 변동이 있는 환경에서 이미징 (Imaging) 을 수행 할 수 있습니다. DIGITAL INSTRUMENTS AFM 3100-S는 2 개의 레이저 빔이있는 고급 광학 도량형 시스템을 사용하여 동시 및 동시 지형 및 측면 이미징을 허용합니다. 이를 통해 서피스 피쳐와 2 차원 릴리프를 정확하게 특성화할 수 있습니다. 또한 고급 작업 기능 (Advanced Operation Capability) 을 통해 사용자는 현미경을 쉽게 조작하고 이미징 설정을 사용자 정의할 수 있습니다. 이미지 캡처 시스템이 내장되어 있어 이미징 도구를 추가할 필요 없이 신속하게 이미지를 캡처할 수 있습니다. 또한 AFM 3100-S 는 생산성 향상을 위해 사용자 친화적 대화형 및 그래픽 탐색 기능을 갖춘 정교한 제어 소프트웨어를 제공합니다. 또한 강력한 데이터 분석 기능과 고급 분석 (Advanced Analysics) 기능을 제공하여 복잡한 측정 및 조사를 수행할 수 있습니다. 이 모델은 생물 물리학, 고급 연구, 제조 공정 (manufacturing process) 과 같은 까다로운 응용 분야에 가장 적합합니다. 또한 VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS AFM 3100-S는 Tapping Mode, Contact Mode 및 PeakForce Tapping 모드를 포함한 다양한 현미경 기술과 호환되기 때문에 매우 다양합니다. 이 기능은 같은 연구 내에서 여러 기술이 요구되거나 통합되는 응용프로그램 (application) 에서 특히 유용합니다. 결론적으로, VEECO AFM 3100-S는 강력한, 사용자 친화적, 다목적 현미경으로, 나노 미터 척도에서 샘플의 정확한 이미징, 조작 및 특성을 가능하게합니다. 이 기능은 현재 시장에서 출시되는 최고의 AFM 중 하나입니다.