판매용 중고 VEECO / DEKTAK Dimension X3D #9298803

VEECO/DEKTAK Dimension X3D는 샘플 서피스에서 피쳐의 실제 치수와 모양을 측정하도록 설계된 고성능 서피스 프로파일러입니다. 최대 0.2 nm 해상도에서 3 차원 표면 지형을 측정 할 수 있으며, 정밀 도량형을위한 이상적인 도구이며, 다양한 응용 프로그램에서 매우 정확한 표면 피쳐를 측정합니다. 치수 X3D (Dimensions X3D) 는 피에조 스캐닝 (piezo scanning) 기술을 사용하여 측정 헤드와 정밀하고 반복 가능한 프로파일에 대한 특허를받은 3 차원 측정 기술. 이 장비는 진공 팁 측정 암을 사용하여 탁월한 접촉 안정성과 정확한 측정을 가능하게합니다. 치수 X3D는 좌표계 방향을 정의하기 위한 직관적이고 자동화된 정렬 절차를 제공합니다. 향상된 모터 응답, 가속 및 반복 성을 위해 빠르고 안정적인 3 축 움직임을 수행하는 프로그래밍 가능한 Z 드라이브 모터가 있습니다. 이 장치에는 비접촉 광학 프로파일로미터, 시각 기반 표면 검사, 태양 전지, 디스플레이, MEMS 등 고도 성장 산업에서 평평하지 않은 표면의 빠른 측정을위한 자동 초점 레이저 (autofocus laser) 를 포함한 다양한 고급 기능이 장착되어 있습니다. 또한 Dimensions X3D에는 강력한 소프트웨어 제품군과 사용하기 쉬운 그래픽 사용자 인터페이스가 있습니다. 이 인터페이스는 다양한 분석 소프트웨어 패키지를 지원하며, 이를 통해 사용자는 스텝 높이 (step heights), 황삭 매개변수 (roughness parameter), 피쳐 높이 (feature heights) 등의 다양한 서피스 측정을 수행할 수 있습니다. 다른 소프트웨어 옵션을 사용하면 3D 서피스 매핑을 위해 기계를 조정할 수 있고, 보다 안정적인 결과를 얻기 위해 서피스를 유형으로 분류하기 위한 실시간 이미지 처리 (real-time image processing) 를 수행할 수 있습니다. Dimensions X3D (Dimensions X3D) 는 신뢰할 수 있고 사용자 친화적인 툴로서, 반도체 처리, 산업 품질 관리, 고급 연구 등 다양한 애플리케이션에 적합합니다. 모듈식 (modular) 설계가 적용되었으며 사용자의 요구를 충족하도록 구성할 수 있습니다. 직관적인 소프트웨어와 안정적인 성능을 갖춘 Dimensions X3D (Dimensions X3D) 는 모든 정밀 도량형 어플리케이션에 이상적인 선택입니다.