판매용 중고 VEECO / DEKTAK Dimension X3D #9203396

VEECO/Depak VEECO/DEKTAK Dimension X3D는 나노 미터 수준에서 재료를 측정하고 분석하기 위해 설계된 미술 스캔 마이크로 프로브 현미경의 상태입니다. 이 현미경은 원자력과 스캐닝 터널링 현미경을 조합하여 초고해상도 이미징 (ultra-high resolution imaging), 실시간 이미징 (real-time imaging), 빠른 데이터 분석 (fast data analysis) 을 제공합니다. 이 기구 는 고급 표면 분석 (advanced surface analysis) 과 재료 특성 (material characterization) 을 수행 할 수 있어서, 연구가 들 은 측정 하기 어려운 여러 가지 물질 을 분석 할 수 있다. VEECO Dimension X3D는 반도체 제작 공정 개발, 재료 과학, 생명 과학 및 엔지니어링의 연구 개발에 유용한 도구입니다. 주로 표면 단계, 공백, 곡물 경계, 나노 스케일의 결함, 다양한 재료의 구조적 특징을 측정하는 데 사용됩니다. 나노 스케일 거칠기 측정을 분석하고, 나노 사이즈 입자를 측정하는 데 사용될 수도 있습니다. DEKTAK Dimension X3D는 무기, 유기 및 중합체와 같은 다양한 재료를 측정 할 수 있습니다. 이 기기는 또한 곡면의 고각 기울기 이미지 이미징, 표면 거칠기 결정, 폴리머의 나노 스레드 측정, 나노 구조 세부 사항 연구 등 다양한 응용 분야를 가지고 있습니다. Dimension X3D 현미경의 주요 특징은 높은 정확도와 품질 이미징 기능입니다. 현미경은 나노 구조의 고정밀 이미지를 얻기 위해 매우 훌륭한 XYZ 포지셔닝 시스템을 갖추고 있습니다. 이 시스템은 기울기 각도가 0.1도 (0.1도) 인 고해상도 이미지를 얻을 수 있습니다. 또한, 높은 해상도는 전체 측정 범위에서 유지됩니다. 결과의 가장 높은 정확성을 보장하기 위해, 기기에는 닫힌 루프 트리거링 시스템 (closed loop triggering system) 과 방진 (anti-vibration) 기능도 있습니다. VEECO/DEKTAK Dimension X3D는 뛰어난 이미징 기능 외에도 강력한 분석 도구를 제공합니다. 서피스 스텝 높이 (surface step heights), 트렌치 깊이 (trench depth), 서피스 거칠기 (surface roughness) 등과 같이 정밀도가 높은 치수 매개변수를 측정할 수 있습니다. 이를 통해 연구자들은 자료의 상세한 이미지를 얻을 수 있을 뿐만 아니라, 양적 측정 (quantitative measures) 을 통해 연구에 대한 통찰력을 높일 수 있습니다. Dimensions X3D는 최고 수준의 기능을 제공하는 최첨단 기기입니다. 고해상도 이미징, 정확한 분석, 고급 기능을 통해 모든 실험실에서 귀중한 툴이 됩니다. 이는 나노미터 수준의 재료를 특성화해야 할 모든 조직에 이상적인 선택입니다. & # 160;