판매용 중고 VEECO / DEKTAK Dimension 3100 #9261415

VEECO / DEKTAK Dimension 3100
ID: 9261415
Atomic Force Microscope (AFM) Nanoscope IV Controller included.
VEECO/DEKTAK Dimension 3100은 뛰어난 정확도와 해상도로 고정밀도, 정량적 표면 프로파일 측정법을 제공하는 미세한 장비입니다. 이 고급 도구는 서피스 및 3D 지형을 측정할 수 있는 뛰어난 기능을 제공합니다. VEECO Dimension 3100에는 사용이 간편한 사용자 인터페이스가 있으며, 이를 통해 수집된 데이터에 대한 설정 및 매개변수 조정을 빠르게 수정할 수 있습니다. 스캐닝 중 반복 가능한 위치를 보장하여 매우 안정적인 결과를 제공하는 높은 정확도, 레이저 기반 포커싱 시스템 (focusing system) 으로 작동합니다. DEKTAK Dimension 3100의 정확한 동력 스테이지는 미세 스케일에서 더 큰 영역까지 평평하고 곡선 된 표면을 측정 할 수 있으며, 스텝 높이는 1.5 nm입니다. 이 고정밀 현미경에는 내장 된 공기 탐사기 기능과 서보 제어 틸트 스테이지 (tilt stage) 가 있으며, 이는 자동 각도 측정 가능성을 제공합니다. 복잡한 3D 측정의 경우, 이 장치에는 조절 속도가 310 µm/s 인 3 축 스캐너와 조절 속도가 최대 7.5 mm/s 인 폐쇄 및 오픈 루프 스캐너가 포함됩니다. 또한 Dimension 3100에는 정확한 도량형에 최적화된 포괄적인 소프트웨어 패키지가 포함되어 있습니다. 이 소프트웨어는 서피스 거칠기, 스텝 높이, 프로파일 및 3D 고도 맵을 평가하도록 설계되었습니다. 또한 데이터 침투 및 추출, 맞춤형 보고서 생성, 3D 컨투어 맵 구성 및 기타 기능을 사용할 수 있습니다. 이 고급 다색성 다색성 현미경에는 실내 공기 조절 환경 제어기 (air-regulated environment control machine), 개선 된 조명, 견고한 카메라 기술 등 다양한 고급 액세서리가 장착되어 있습니다. VEECO/DEKTAK Dimension 3100은 탁월한 성능과 정확도로 동급 최고의 해상도 이미징 및 데이터 추출을 제공합니다. 지표면 프로파일로메트리 (surface profilometry) 측정에서 최대 반복성과 정확성을 찾는 기술자에게 이상적인 선택입니다.
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