판매용 중고 VEECO / DEKTAK Dimension 3100 #9105744

VEECO / DEKTAK Dimension 3100
ID: 9105744
Atomic force microscope (AFM).
VEECO/DEKTAK Dimension 3100은 고급 광학 프로파일링 도구입니다. 이 비 접촉 현미경의 최대 해상도는 0.076 nm이며 높은 정확도의 3 차원 표면 매핑을 제공합니다. 혁신적인 디자인으로 VEECO Dimension 3100은 최대 1 "× 30" 의 넓은 영역 측정을 포함하여 표면을 정확하게 측정 할 수 있습니다. 이 도구는 재료 특성화, 나노 포지셔닝 등 다양한 애플리케이션에 적합합니다. 이동식 오브젝티브 렌즈 (movable objective lens), 맞춤형 측정 단계 (customized measurement stage), 고성능 제어 장비 (high-performance control equipment) 등 안정적인 결과를 위한 강력한 구성 요소가 장착되어 있습니다. DEKTAK Dimension 3100은 독특한 2 카메라 시스템을 기반으로 광학 디자인을 사용합니다. 이 장치는 두 이미지를 보완 영역 검출기에 투영하는 데 사용됩니다. 이미지는 단면 분석을 허용하는 방식으로 오버레이됩니다. 이에 비해, 두 이미지 사이의 서피스 변위를 결정할 수 있으며, 정확한 3 차원 표면 프로파일을 제공합니다. 이 기계는 성능 향상을 위해 여러 가지 고급 기능을 제공합니다. 여기에는 자동 샘플 이동, 프로그래밍 가능한 동작 제어, 광범위한 샘플별 설정, 자동 정렬 등의 옵션이 포함됩니다. Dimension 3100은 사용이 간편한 컴팩트하고 사용이 간편한 툴로서, 사용자 친화적인 인터페이스를 통해 작업을 간편하게 수행할 수 있습니다. 이 도구는 나노 스케일 해상도 (nanoscale resolution) 와 자동화된 기능 외에도 다양한 사용자 정의 옵션을 제공합니다. 이 도구는 원격 운영, 교육 및 산업 응용을위한 도구로 구성 할 수 있습니다. VEECO/DEKTAK Dimension 3100은 업계 표준 소프트웨어 및 통신 프로토콜과도 호환됩니다. 전반적으로 VEECO Dimension 3100은 고급 3 차원 표면 프로파일 현미경입니다. DEKTAK Dimension 3100은 강력한 옵티컬 구성 요소, 자동 기능, 다양한 사용자 정의 옵션을 통해 다양한 어플리케이션에 적합합니다. 컴팩트하고 편리한 패키지로 고해상도, 정확도, 신뢰성을 제공합니다.
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