판매용 중고 SONOSCAN C-SAM Series D-9500 #293598462

SONOSCAN C-SAM Series D-9500은 계층 구조적 샘플과 비 계층 구조적 샘플의 비 파괴 분석 및 측정에 사용되는 레이저 스캐닝 현미경입니다. 오류 감지 및 분석 기기 전문가 인 SONOSCAN이 개발 한 C-SAM Series D-9500은 레이저 빔을 사용하여 각 샘플 표면을 측정합니다. 레이저 빔 (laser beam) 은 샘플 서피스에서 반사되어 전체 샘플 서피스를 스캔합니다. 그런 다음, 반사 된 레이저 빔 (laser beam) 을 분석하여 샘플 표면의 자세한 단면을 제공하여 풍부한 데이터 포인트를 반환합니다. C-SAM Series Laser Scanning Microscope에는 자세한 표면 지형을 포착하기위한 특수 고급 광학 및 검출기가 포함되어 있습니다. 이러한 고해상도 광학의 측면 해상도는 2nm, 수직 해상도는 0.5nm입니다. C-SAM 시리즈에는 최첨단 디지털 신호 프로세서와 CCD 어레이가 장착되어 있어 3차원 표면 시각화 (surface visualization), 표면 분석 (surface analysis), 고급 이미지 분석 (advanced image analysis), 다양한 이미지 획득 및 프로브 (probe). C-SAM 시리즈는 또한 고급 레이저 스캐닝 기능으로, 매우 높은 수준의 감도와 정확성을 제공합니다. "레이저 '주사" 시스템' 은 0.5 "나노미터 '의 고해상도 에서 표본 전체 를 빠르고 효율적 으로 지도 할 수 있다. 이를 통해 샘플 서피스를 보다 자세히 분석할 수 있으며, 나노미터 배율 지형, 공동 (cavities), 돌출 (protrusion) 및 서피스 거칠기 (surface roughness) 와 같은 피쳐의 픽셀 특성을 통해 자세한 픽셀을 사용할 수 있습니다. 또한 C-SAM 시리즈 레이저 스캐닝 현미경 (C-SAM Series Laser Scanning Microscope) 에는 기본 치수 측정에서 포괄적 인 프로파일 분석에 이르기까지 광범위한 응용 프로그램이 장착되어 있습니다. 여기에는 광범위한 측정 프로세스, 이미지 데이터 분석, 프로파일 분석, 정교한 나노 스케일 재료 테스트 및 분석이 포함됩니다. 이를 통해 샘플 프로파일 (sample profile) 과 다양한 재료의 정량적 분석을위한 고급 도구 (advanced tools) 를 쉽게 측정할 수 있습니다. SONOSCAN C-SAM Series D-9500은 또한 금속, 도자기 및 복합물과 같은 다양한 표면, 지질 샘플 및 바이오 샘플 등 다양한 샘플 유형에 적합합니다. 요약하면, C-SAM Series D-9500은 다양한 샘플 유형을 분석 할 수있는 고급 레이저 스캐닝 현미경입니다. 고해상도 광학 (Optic), 레이저 스캐닝 (Laser Scanning) 기술, 종합적인 응용 프로그램 모음을 자랑하며 다양한 측정 및 분석을 가능하게 합니다. 이를 통해 SONOSCAN C-SAM Series D-9500은 계층 구조와 계층 구조가 아닌 구조를위한 이상적인 도구로, 상세하고 정확한 결과를 제공합니다.