판매용 중고 SONOSCAN C-SAM Series D-9000 #9260505

SONOSCAN C-SAM Series D-9000은 결함 또는 표면 특성화를위한 샘플의 파괴적이지 않은 검사를 위해 설계된 혁신적인 레이저 스캐닝 공백 현미경입니다. 고급 이미징 (advanced imaging) 기술을 사용하여 뛰어난 심도를 가진 탁월한 고해상도 이미지를 생성합니다. 이 시리즈는 단일 샷 (single-shot), 랜덤 액세스 (random access) 및 결함 측정 전체 필드 스캔 (full-field scan), 그레인 경계 (grain boundary) 및 기타 여러 서피스 피쳐를 포함한 여러 스캐닝 모드를 제공합니다. C-SAM 시리즈 D-9000은 소형 고정 베이스 장치와 이동 가능한 슬라이드 데크로 구성됩니다. 기본 장치에는 스캐닝을위한 반도체 빔과 이미지 캡처를위한 광학 시스템 (optical system for image capture) 을 제공하는 2 개의 레이저 다이오드가 있습니다. 이 시스템은 매우 상세한 이미지를 캡처할 수있는 고해상도 메가 픽셀 (megapixel) 카메라와 결합되어 있습니다. 슬라이드 데크에는 수동 작업없이 넓은 지역의 신속한 이미징을위한 동력 샘플 스테이지 (Motorized Sample Stage) 가 있습니다. SONOSCAN C-SAM Series D-9000에는 이미징 기능을 향상시키는 몇 가지 다른 고유 한 기능도 있습니다. 여기에는 레이저 전원 제어, 조절 가능한 공기 간격 제어, 기울기 보상, 빔 조향 및 각도 스캔이 포함됩니다. "레이저 '의 동력 조절 기능 은" 레이저' 의 동력 을 조절 하여 "레이저 '가 원하는" 애플리케이션' 을 위하여 원하는 효과 를 낼 수 있게 해 준다. 조절 가능한 공기 간격 (air gap) 을 통해 현미경은 최대 깊이 (depth of field) 로 거의 모든 종류의 표면을 이미징 할 수 있습니다. 기울기 보상 (Tilt compensation) 은 이미지를 물체 기울임에 맞게 수정하는 반면, 빔 스티어링은 레이저 빔의 정확한 조향을 통해 이미징 아티팩트를 피할 수 있습니다. 각도 스캔 (Angled scan) 은 서피스 도량형 연구에 유용한 서피스에서 비스듬한 각도로 이미지를 생성합니다. C-SAM 시리즈 D-9000 (C-SAM Series D-9000) 은 나노 구조에서 마이크로 미터에 이르는 재료를 검사하기위한 강력한 도구이며, 비교할 수없는 수준의 세부 사항과 정확성을 제공합니다. 첨단 이미징 기능을 갖춘 마이크로일렉트로닉 장치 (microelectronic devices), 생물학적 샘플 (biological samples), 의료 장치 (medical devices) 및 기타 여러 응용 프로그램과 같은 복잡한 샘플의 특성화 및 심층적 이미징을위한 완벽한 도구입니다.