판매용 중고 SONOSCAN C-SAM Series D-9000 #9176975

SONOSCAN C-SAM Series D-9000은 고해상도 음향 이미징을 목적으로 특별히 설계된 고급 스캔 음향 현미경입니다. 제로 크로스 (zero-cross) 및 펄스 에코 (pulse-echo) 이미징 기술을 사용하여 물질을 조사하고 나노 미터에서 층 박막, 마이크로 장치, 벌크 재료 및 심지어 단일 결정 표본의 자세한 음향 이미지를 제공합니다. 이 초고해상도 음향 이미징 현미경은 미크론 (sub-micron) 수준에서 정확한 비 파괴적 분석 및 신뢰성 있는 재료의 이미징을 위해 설계되었습니다. 256 채널 센서 시스템 (sensor system) 을 사용하여 샘플 내에서 최대 256 개의 위치를 정확하고 동시에 측정하며, 속도와 민감도의 실시간 조정 기능을 사용자에게 제공합니다. 최대 프로브 속도 인 4mm/sec는 0.001 um/sec로 줄일 수 있으며, 탁월한 정확성과 반복 성을 제공합니다. C-SAM Series D-9000은 다른 음향 이미징 현미경과 비교할 때 뛰어난 기능을 제공합니다. 여기에는 두 가지 다른 재료를 동시에 이미징 할 수있는 기능이 포함됩니다. 펄스 에코 이미징 모드는 최대 2 미터까지 초점 깊이가 가능하며, 0 크로스 모드는 4 미터 이상에서 최대화됩니다. 또한, 넓은 직사각형 시야는 단일 프레임에서 최대 32,000 개의 데이터 포인트를 캡처하며, 높은 동적 범위 (dynamic range) 를 통해 음향 측정을 자세히 볼 수 있습니다. 또한 SONOSCAN C-SAM Series D-9000은 사용자에게 사용하기 쉬운 도구를 제공하여 분석할 자료의 상세한 이미지를 신속하게 구축하는 강력한 소프트웨어 기능을 제공합니다. 예를 들어, 자동화된 이미지 스티칭 기능은 부드러운 합성 이미지를 만들고 시차 아티팩트를 제거합니다. 또한 여러 레이어에서 동시에 재료를 찾을 수 있는 자동 (automated) 빼기 기능 (automated subtraction feature) 이 있으며 높은 정밀도로 수직 높이 (subsurface vertical heights) 를 측정 할 수 있습니다. C-SAM 시리즈 D-9000 (C-SAM Series D-9000) 은 강력한 스캔 음향 현미경으로, 사용자에게 서브 미크론 수준에서 다양한 재료를 정확하고 안정적으로 이미지화할 수있는 필요한 도구를 제공합니다. 사용자에게 친숙한 소프트웨어와 다양한 기능을 통해 재료 분석 (materials analysis), 결함 감지 (defect detection), 비파괴적 테스트 (nondestructive testing) 등 다양한 애플리케이션에 이상적인 선택이 가능합니다.