판매용 중고 PHILIPS / FEI Tecnai Osiris #293815874

PHILIPS / FEI Tecnai Osiris
ID: 293815874
Scanning Transmission Electron Microscope (S/TEM).
PHILIPS/FEI Tecnai Osiris 현미경은 첨단 이미징 기술과 혁신적인 기능을 결합한 최첨단 전송 전자 현미경 (TEM) 으로, 나노 기술, 재료 과학, 생물학 등의 다양한 분야에 대한 고해상도 및 고품질 이미지를 제공합니다. 이 현미경 모델은 정밀도 및 신뢰성으로 유명한 전자 현미경 제조업체 인 FEI (FEI) 에 의해 개발되었습니다. FEI Tecnai Osiris 현미경에는 FEG (Field Emission Gun) 전자원이 장착되어 있으며, 이는 높은 밝기와 안정성을 가진 고도로 집중된 전자 빔을 생성합니다. 이를 통해 기존의 열전자원에 비해 이미지 성능 향상, 신호 대 잡음비 향상, 해상도 향상 등의 효과를 얻을 수 있습니다. 이 현미경은 또한 안정적인 고전압 전원 공급 장치 (High-Voltage Power Supply) 와 정확한 빔 정렬을위한 정확한 제어 메커니즘을 갖추고 있으며, 이를 통해 사용자는 샘플에 대한 최적의 이미징 조건을 달성 할 수 있습니다. 필립스 오시리스 (PHILIPS OSIRIS) 현미경의 주요 특징 중 하나는 전자빔의 구형 및 반음계 수차를 수정하는 고급 수차 보정 시스템입니다. 이 수정 기술은 이미지의 해상도와 대비를 대폭 향상시켜, 연구원들이 탁월한 선명도를 통해 세밀한 디테일 (details) 과 구조를 시각화할 수 있게 해줍니다. 현미경은 아강 (sub-angstrom) 해상도를 달성 할 수 있으며, 나노 스케일 재료 및 구조를 연구하는 데 이상적입니다. Tecnai Osiris 현미경에는 고해상도 이미지 캡처를위한 고감도 CCD 카메라, 원소 매핑을위한 스캐닝 전송 전자 현미경 (STEM) 검출기, 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 검출기 등 이미징 및 분석을위한 다양한 검출기가 장착되어 있습니다. 화학 분석 검출기. 이러한 탐지기 (detector) 는 다양한 이미징 모드와 분석 기법으로 쉽게 전환, 최적화되어, 유연성과 효율성을 갖춘 다양한 실험을 수행할 수 있습니다. 또한 FEI OSIRIS 현미경은 이미징 기능 외에도, 사용자 친화적 운영 및 데이터 획득을 위한 고급 자동화 및 소프트웨어 기능을 제공합니다. 이 현미경은 직관적인 소프트웨어 인터페이스 (Software Interface) 에 의해 제어되며, 사용자는 이미징 매개변수를 설정하고, 이미지를 획득하고, 쉽게 분석을 수행할 수 있습니다. 이 시스템은 빔 정렬 (beam alignment), 초점 조정 (focus adjustment) 및 이미지 획득 (image acquisition) 을 위한 자동화된 기능을 갖추고 있어 수동 개입의 필요성을 줄이고 재현성을 향상시킵니다. 필립스 테크나이 오시리스 (PHILIPS Tecnai Osiris) 현미경은 모듈식 아키텍처로 설계되었으며, 특정 연구 요구에 맞게 시스템을 손쉽게 업그레이드하고 사용자 정의할 수 있습니다. 사용자는 동적 실험을위한 현장 홀더 (In Situ Holder), 냉동 샘플을위한 Cryo-Transfer 시스템, 제어 조건에서 샘플을 연구하기위한 환경 챔버 (Environmental Chamber) 와 같은 추가 액세서리로 현미경의 기능을 확장 할 수 있습니다. 이러한 유연성은 현미경을 광범위한 연구 응용을위한 다재다능한 도구로 만듭니다. 전반적으로 OSIRIS 현미경은 탁월한 이미징 성능, 고급 수차 수정, 다목적 감지 기능 및 사용자 친화적 인 작동을 제공하는 최첨단 장비입니다. 고해상도 이미징 기능, 고급 자동화 기능, 사용자 정의 유연성 등을 갖춘 필립스/페이 오시리스 (PHILIPS/FEI OSIRIS) 현미경은 연구자와 과학자들이 다양한 연구 분야에서 전자 현미경의 경계를 밀어내는 강력한 도구입니다.
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