판매용 중고 PARK SYSTEMS XE7 #293657995

PARK SYSTEMS XE7은 현미경 분야의 주요 혁신가 인 PARK SYSTEMS가 설계 한 최첨단 스캔 프로브 현미경입니다. 이 현미경은 첨단 기능과 비용 효율적인 성능 (비용 효율적인) 을 결합하여 다양한 표면과 재료에 대한 탁월한 이미징 및 분석 (분석) 을 제공합니다. XE7은 나노미터 이하의 해상도, AFM (non-contact atomic force microscopy), 수많은 혁신적인 사용자 친화적 기능과 같은 고급 이미징 기능을 제공합니다. 비접촉 AFM (Non-Contact AFM) 을 사용하면 샘플과 직접 접촉하지 않고 원자 수준에서 스캔할 수 있으므로 해상도 이미지가 높고 입수 시간이 빨라집니다. 또한 PARK SYSTEMS XE7은 고유 한 'Scanasyst' 기능을 사용하여 사용자가 지형과 나노 스케일 해상도 이미징 사이를 빠르게 전환 할 수 있습니다. 이 다재다능성은 XE7을 광범위한 나노 스케일 (nanoscale) 과 분자 특성 및 표면을 조사하기위한 귀중한 도구로 만듭니다. 또한 PARK SYSTEMS XE7 은 다양한 맞춤형 구성 기능을 제공하므로, 개별 요구 사항에 맞게 기능을 조정할 수 있습니다. 자동화된 레일 디플렉션 시스템 (rail-deflection system) 은 전체 샘플에 걸쳐 균일한 이미지를 보장하는 반면, 자동 스캔 잠금 (scan-lock) 기능은 효율적인 샘플 스캐닝 및 데이터 보안 기능을 통해 사용자의 데이터를 보호합니다. XE7 (옵션) 은 원격 컨트롤러와 직관적인 그래픽 인터페이스가 내장된 터치스크린 모니터 (Touch-Screen Monitor) 를 통해 작동이 간편합니다. 탁월한 이미징 기능과 기능 외에도, PARK SYSTEMS XE7 은 강력한 소프트웨어/소프트웨어 패키지를 제공합니다. 포함된 'SIMA' 소프트웨어는 3D 프로파일링, 이미지 스티칭 등의 강력한 이미지 처리 및 분석 기능을 제공합니다. 이러한 프로그램을 통해 사용자는 정확한 시각화를 수행하고, 데이터가 풍부한 이미지로 샘플을 특성화할 수 있습니다. 또한 XE7 의 Analysis & Reporting 소프트웨어를 사용하면 그래픽 보고서 및 프레젠테이션을 작성하여 데이터를 동료와 공유할 수 있습니다. PARK SYSTEMS XE7 by PARK SYSTEMS는 최첨단 고성능 스캔 프로브 현미경으로, 정확한 이미징 기능과 다양한 기능이 필요한 사람들에게 적합합니다. 강력한 소프트웨어 (Software) 및 커스터마이징 (Customization) 옵션을 통해 재료 과학, 나노 기술 및 기타 분야의 다양한 응용 분야에 이상적입니다.