판매용 중고 PARK SYSTEMS NX-HV #293778344

PARK SYSTEMS NX-HV는 나노 기술, 재료 과학 및 생명 과학 분야의 광범위한 응용 분야에 대한 고해상도 이미징 및 초정밀 측정을 제공하는 최첨단 원자력 현미경 (AFM) 입니다. 이 고급 기기를 통해 연구원들은 뛰어난 정확도와 정확도로 다양한 샘플의 나노 스케일 표면 지형, 기계적 특성, 전기 특성을 조사 할 수 있습니다. NX-HV 의 주요 특징 중 하나는 HA (High Vacuum Compatibility) 로, 진공 조건에서 샘플을 이미징 및 분석할 수 있습니다. 이 기능은 주변 조건에서 오염 또는 산화에 취약할 수있는 민감하거나 반응성 (reactive) 샘플을 연구하는 데 특히 유리합니다. AFM 은 완전 한 통합 진공실 (vacuum chamber) 과 전동식 스테이지 (motorized stage) 를 갖추고 있어 높은 진공 환경에서 안정적이고 안정적인 작동을 가능하게 합니다. PARK SYSTEMS NX-HV 현미경에는 다양한 샘플 크기와 실험 요구 사항을 수용하기 위해 다양한 스캔 크기와 스캔 속도를 제공하는 다양한 스캐너 (scanner) 가 장착되어 있습니다. 스캐너는 높은 선형성과 낮은 소음 수준으로 작동하여 AFM 이미지와 데이터의 정확하고 재현 가능한 획득을 보장합니다. 이 현미경은 또한 진동과 드리프트 (drift) 를 최소화하여 고품질 이미징 및 측정을 제공하는 고급 노이즈 감소 (noise reduction) 기술을 갖추고 있습니다. 이 시스템은 모듈식 아키텍처 (modular architecture) 로 설계되었으며, 추가 액세서리와 옵션을 쉽게 통합하여 기능을 향상시킬 수 있습니다. 사용자는 PFM (piezoresponse force microscopy), 전도성 AFM 및 MFM (magnetic force microscopy) 과 같은 특수 이미징 모드로 현미경을 사용자 정의하여 특정 연구 요구를 해결할 수 있습니다. AFM은 또한 DFRT (Dual-Frequency Resonance Tracking) 및 비접촉 모드 AFM과 같은 고급 이미징 기술을 지원하여 감도 및 해상도를 향상시킵니다. NX-HV 는 다양한 이미징 모드 (Imaging Mode) 와 샘플 (Sample) 유형에 맞게 구성된 다양한 특수 프로브 및 팁을 갖추고 있습니다. 프로브는 정확한 팁 형상을 갖춘 고품질 (High-Quality) 재료로 제작되어 안정적인 성능과 장기적인 내구성을 보장합니다. 또한 AFM 은 완벽한 팁 교체 (tip replacement) 를 위한 자동화된 팁 교환 시스템을 갖추고 있으며, 사용자 개입을 최소화하고, 실험 중 다운타임을 줄입니다. 이 현미경은 종합적인 이미징/분석 도구를 제공하는 직관적이고 사용자 친화적 (user-friendly) 소프트웨어에 의해 제어됩니다. 이 소프트웨어를 사용하면 이미징 매개변수를 쉽게 설정하고, AFM 이미지를 획득하며, 정량적 표면 거칠기 측정, 힘 분광법, 데이터 시각화 등의 고급 데이터 분석을 수행할 수 있습니다. 또한 실시간 이미징 및 데이터 스트리밍을 지원하여 샘플을 즉시 피드백 (feedback) 하고 분석할 수 있습니다. 결론적으로, PARK SYSTEMS NX-HV는 광범위한 나노 스케일 연구 응용 분야에 대한 탁월한 이미징 기능, 정밀 측정 및 다재다능성을 제공하는 최첨단 원자력 현미경입니다. 높은 진공 호환성, 고급 스캔 기술, 모듈식 디자인, 전문 프로브, 사용자 친화적 인 소프트웨어를 갖춘 AFM은 탁월한 디테일과 정확성으로 나노 월드 (nanoworld) 를 탐색하려는 연구원들에게 이상적인 도구입니다.