판매용 중고 NT-MDT NTEGRA #293799997

NT-MDT NTEGRA
제조사
NT-MDT
모델
NTEGRA
ID: 293799997
Atomic Force Microscope (AFM).
NT-MDT NTEGRA는 나노 기술, 재료 과학, 생물학 분야의 광범위한 연구 애플리케이션을 위해 고해상도 이미징 및 분석 기능을 제공하는 최첨단 원자력 현미경 (AFM) 장비입니다. 이 고급 현미경은 AFM, 스캐닝 터널링 현미경 (STM), 초점 라만 분광학 (Raman spectroscopy) 과 같은 다양한 스캐닝 프로브 현미경 기술을 통합하여 연구원들에게 나노 스케일에서 표면 특성과 상호 작용을 연구하기위한 다재다능한 플랫폼을 제공합니다. NTEGRA 시스템은 고급 제어 소프트웨어와 결합된 안정적이고 정밀 조작 스캐닝 프로브 (scanning probe) 현미경으로 구성되어 있으며, 이를 통해 나노미터 이하의 해상도로 지형 및 화학 정보를 얻을 수 있습니다. 이 기기는 압전 스캐너 (piezoelectric scanner) 를 특징으로하여 샘플 표면 위에 프로브 팁을 정확하게 배치하여 나노 입자, 박막, 생물학적 샘플과 같은 표면 특징의 고해상도 이미지를 얻을 수 있습니다. 이 장치에는 또한 프로브 샘플 상호 작용력에 대한 정확한 제어를 유지하는 정교한 피드백 루프 (feedback loop) 가 포함되어 있어 정확하고 인공적인 이미징이 가능합니다. NT-MDT NTEGRA 현미경의 핵심 강점 중 하나는 다중 모드 이미징 및 분석을 수행하는 능력입니다. 서로 다른 스캐닝 프로브 현미경 기술을 통합함으로써, 사용자는 표면 거칠기, 기계적 특성, 전기 전도성, 화학 조성 등 샘플 특성에 대한 보완 정보를 얻을 수 있습니다. 예를 들어, 지형 정보를 얻기 위해 AFM 모드를 사용할 수 있지만, STM 모드를 사용하면 원자 척도에서 전자 특성을 조사 할 수 있습니다. 또한, 화학 성분을 식별하고 샘플 표면의 공간 분포를 매핑하기 위해 구경 라만 (Raman) 분광법을 사용할 수 있습니다. NTEGRA 기계는 다양한 연구 요건에 맞는 다양한 이미징 모드 및 기능을 제공합니다. 표준 접촉 및 탭핑 모드 AFM 외에도, 현미경은 비 접촉 AFM, 동적 힘 현미경 및 켈빈 프로브 힘 현미경과 같은 고급 이미징 모드를 지원하여 연구원들이 높은 감도와 정밀도를 가진 광범위한 샘플 특성을 조사 할 수 있습니다. 이 도구에는 환경 제어 기능도 포함되어 있으며, 제어 온도, 습도, 가스 대기 조건에서 이미징을 수행할 수 있습니다. 또한, NT-MDT NTEGRA 현미경에는 고급 데이터 분석 및 시각화 도구가 포함되어 있으며, 이를 통해 획득한 이미지와 스펙트럼에서 귀중한 정보를 추출할 수 있습니다. 통합 소프트웨어 패키지를 사용하면 표면 구조의 이미지 처리, 피쳐 분석, 3D 시각화를 통해 복잡한 나노 스케일 (nanoscale) 현상의 해석을 용이하게합니다. 또한 내장된 분석 도구를 사용하여 서피스 거칠기, 접착력, 재료 특성을 정량적으로 측정할 수 있습니다. 전체적으로, NTEGRA 현미경은 나노 스케일 연구를위한 강력한 도구이며, 광범위한 과학적 조사를 지원하기 위해 고해상도 이미징, 다목적 분석 기능 및 고급 이미징 모드를 제공합니다. 다중 모드 기능, 정확한 제어, 고급 데이터 분석 도구를 통해 현미경은 연구원들에게 나노 스케일 (Nanoscale) 세계에 대한 귀중한 통찰력을 제공하여 기본 연구, 재료 개발, 생물학적 연구의 혁신을 가능하게합니다.
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