판매용 중고 NANOSURF Naio #293758278

제조사
NANOSURF
모델
Naio
ID: 293758278
Atomic Force Microscope (AFM).
나노 서프 나이 오 (NANOSURF Naio) 는 최첨단 기술을 통합하여 나노 스케일 표면의 고해상도 이미징 및 분석을 제공하는 최첨단 원자력 현미경 (AFM) 입니다. 컴팩트한 디자인과 사용자 친화적 인터페이스를 갖춘 Naio 는 다양한 업종의 연구, 개발, 품질 관리 분야에서 다양한 애플리케이션에 적합합니다 (영문). 나노 서프 나이 오 (NANOSURF Naio) 는 강력하고 안정적인 기계적 설계를 통해 어려운 환경에서도 정확하고 정확한 측정을 보장합니다. AFM 헤드에는 고해상도 위치 센서와 압전 스캐너 (piezoelectric scanner) 가 장착되어 있어 스캐닝 프로브를 정확하게 제어할 수 있습니다. 이렇게 하면 서브나노미터 (sub-nanometer) 해상도로 샘플 서피스에 대한 자세한 지형 정보를 얻을 수 있습니다. 나이오 (Naio) 의 주요 특징 중 하나는 생물학적 샘플, 고분자, 반도체, 박막 등 다양한 유형의 샘플을 이미징하는 다재다능성입니다. 현미경은 콘택트 모드 (contact mode), 탭핑 모드 (tapping mode), 비컨택트 (non-contact) 모드 (non-contact) 와 같은 다양한 모드로 작동하여 샘플 속성과 원하는 해상도를 기준으로 가장 적합한 이미징 방법을 선택할 수 있습니다. 나노 서프 나이 오 (NANOSURF Naio) 는 샘플 표면의 실시간 시각화, 데이터 분석 및 해석을위한 강력한 이미지 처리 도구를 제공하는 고급 이미징 소프트웨어를 갖추고 있습니다. 이 소프트웨어를 사용하면 이미지 조작, 표면 거칠기 측정, 표면 거칠기 (surface roughness), 피크 투 밸리 높이 (peak-to-valley height), 표면적 (surface area) 과 같은 정량적 정보 추출 등을 쉽게 수행할 수 있습니다. 나이오 (Naio) 는 이미징 기능 외에도 나노 스케일 (nanoscale) 에서 재료 특성을 특성화하기위한 다양한 고급 측정 기술을 제공합니다. 여기에는 힘 분광법이 포함되며, 여기서 팁 샘플 상호 작용력은 접착, 강성, 탄성과 같은 기계적 특성을 결정하도록 측정됩니다. AFM은 또한 전기 측정 (electrical measurement) 을 수행 할 수 있으며, 표본의 전도도 (conductivity) 및 정전 (capacitance) 과 같은 전기 특성을 조사 할 수 있습니다. 나노 서프 나이 오 (NANOSURF Naio) 는 사용자 편의를 염두에두고 설계되었으며, 표준 실험실 벤치에 쉽게 맞는 소형 설치 공간을 갖추고 있습니다. 현미경은 최소한의 유지보수 (maintenance) 를 필요로 하며, 운영을 위해 신속하게 설정할 수 있으므로 연구 시설, 교육 기관 등 다중 사용자 환경에 적합합니다. 전반적으로 Naio는 강력하고 다양한 원자 힘 현미경으로, 고해상도 이미징, 고급 측정 기능, 사용자 친화적 인 작동을 제공합니다. 나노 서프 나이 오 (NANOSURF Naio) 는 소형 디자인, 견고한 건축, 정교한 소프트웨어를 통해 나노 기술, 재료 과학, 표면 분석 분야에서 일하는 연구원 및 엔지니어에게 귀중한 도구입니다.
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