판매용 중고 NANOSURF Atomic Force Microscope (AFM) #293770952

NANOSURF Atomic Force Microscope (AFM) 는 날카로운 프로브를 사용하여 샘플의 표면을 스캔하여 나노 미터 척도에 대한 자세한 지형 정보를 제공하는 고해상도 이미징 기기입니다. AFM은 나노 스케일 (nanoscale) 수준에서 표면 형태, 기계적 특성 및 표면 상호 작용을 연구하기 위해 재료 과학, 나노 기술, 생물학, 생물 물리학 등 다양한 분야에서 널리 사용되는 강력한 도구입니다. AFM 작동의 핵심 원리는 날카로운 프로브 (sharp probe) 를 사용하는 것, 일반적으로 끝이 날카로운 캔틸레버 (cantilever) 를 포함하며, 이는 샘플 표면과 상호 작용합니다. 탐사선 이 표면 을 검사 할 때, 그것 은 "반 데르 발스 '와 같은 분자 간 의 힘, 정전기, 그리고 끝 과 표본 사이 의 화학적 힘 을 경험 한다. 이러 한 상호작용 은 "캔틸레버 '의 편향 을 야기 한다." 캔틸레버' 는 민감 한 탐지기 에 의해 검출 되어 표면 의 지형 지도 를 생성 할 수 있다. NANOSURF AFM에는 이미징 기능과 성능을 향상시키는 고급 기능이 있습니다. 나노 서프 AFM (NANOSURF AFM) 의 주요 특징 중 하나는 고해상도 이미징 기능으로, 연구자들은 나노 스케일 (Nanoscale) 수준에서 뛰어난 선명도와 디테일로 표면 기능을 시각화 할 수 있습니다. AFM은 나노 입자 (nanoparticle), 나노 와이어 (nanowires), 생체 분자 (biomolecule) 와 같은 작은 특징을 연구하는 데 이상적입니다. 고해상도 이미징 외에도, NANOSURF AFM은 다양한 샘플 유형 및 연구 요구 사항을 충족하는 다양한 이미징 모드를 제공합니다. 가장 일반적으로 사용되는 이미징 모드에는 접촉 모드, 탭 모드 및 동적 모드가 있습니다. 접촉 모드에서, 프로브 팁은 샘플 서피스와 지속적으로 접촉하여, 고해상도 지형 정보를 제공합니다. 반면, 탭핑 모드는 공명 주파수 근처의 캔틸레버 (cantilever) 를 진동시키는 것으로, 팁 샘플 상호 작용력을 감소시키고, 샘플 손상을 최소화하고, 프로브 수명을 연장합니다. 비접촉 모드 (non-contact mode) 라고도하는 동적 모드 (dynamic mode) 는 더 높은 진동 진폭에서 작동하여 접착 및 강성과 같은 샘플 특성을 측정 할 수 있습니다. 또한, NANOSURF AFM은 고급 힘 분광법 (Advanced Force Spectroscopy) 기능을 갖추고 있으며, 연구원은 접착, 강성 및 탄성과 같은 샘플의 기계적 특성을 연구 할 수 있습니다. 샘플 표면에 제어 된 힘을 가함으로써, 연구자들은 힘-거리 곡선 (force-distance curve) 을 측정하여 나노 스케일 (nanoscale) 수준에서 재료의 기계적 특성에 대한 통찰력을 제공 할 수있다. NANOSURF AFM은 또한 nanomanipulation, nanolithography 및 electrical characterization과 같은 다양한 다른 기능을 수행 할 수 있습니다. 나노 마니 풀레이션 (Nanomanipulation) 은 연구자들이 높은 정밀도로 표면의 개별 나노 입자 또는 생체 분자를 조작하여 나노 구조의 조립과 분자 상호 작용 연구를 가능하게한다. 나노 리토 그래피 (Nanolithography) 는 AFM 프로브를 사용하여 나노 스케일의 표면을 패턴화하여 나노 구조와 장치를 만드는 다목적 도구를 제공합니다. 또한, AFM은 전기 프로브를 통합하여 샘플의 전도성, 저항성 및 커패시턴스를 측정함으로써 전기 특성에 사용될 수있다. 요약하면, NANOSURF AFM은 재료 및 생물학적 샘플의 고해상도 이미징 및 나노 스케일 특성화를위한 다재다능하고 강력한 도구입니다. AFM은 고급 기능, 이미징 모드 (Imaging Mode), 힘 분광학 및 나노 매니 픽션 (Nanomanipulation) 기능으로 나노 월드를 탐색하고 이해하려는 다양한 분야의 연구자들에게 없어서는 안될 도구 역할을합니다.