판매용 중고 LEICA EM AFS2 #293830796

LEICA EM AFS2 현미경은 고해상도 이미지와 원소 분석을 생성 할 수있는 기술적으로 진보 된 스캐닝 및 전송 전자 현미경입니다. 이 현미경에는 필드 방출 총 (field emission gun) 과 극저온 탐지기 (cryogenic detector) 를 포함한 다양한 구성 요소가 장착되어 있습니다. 전자방출포 (Field Emission Gun) 는 고가치 전자빔을 제공하는 데 사용되며, 매우 작은 소스에서 초고해상도를 가진 고해상도 (High Resolution) 이미지를 생성할 수 있다. 극저온 검출기는 다른 전자 빔의 에너지를 측정하고, 저 빔 전류에서도 신호 대 잡음비 (signal-to-noise ratio) 를 향상시키는 데 사용됩니다. 또한, EM AFS2 현미경에는 넓은 면적 검출기를 가진 Everhart-Thornley 검출기로 구성된 검출 시스템이 있습니다. "탐지기 '는 각기 다른 전자 광선 의" 에너지' 를 탐지 하고 측정 하는 데 사용 되며, 동시 에 "에너지 '가 다른 원소 의" 에너지' 를 측정 하도록 돕는다. 이 현미경에는 스티그 이미징 프로세스를 자동화하는 자동 스티그 이미징 내비게이션 시스템도 있습니다. LEICA EM AFS2 현미경에는 다양한 고급 기술이 있으며, 이를 통해 사용자는 직관적이고 효율적인 방법으로 가리키고 클릭할 수 있습니다. 이 현미경에는 고급 이미지 처리 (Advanced Image Processing) 기술이 탑재되어 있으며, 실시간 모드에서 이미지를 재구성 및 향상시키는 데 사용됩니다. EM AFS2 현미경은 또한 사용자가 생성된 이미지를 객관적으로 분석 할 수있는 이미지 분석 도구를 제공합니다. 또한, 현미경에는 최상의 해상도를 위해 최적의 초점을 달성하기위한 고급 초점 기술 (Advanced Focusing Technology) 이 포함되어 있습니다. 또한, 현미경에는 고해상도 광학 정렬 시스템 (optical alignment system) 이 장착되어 있어 완벽하게 정렬된 이미지를 만들 수 있습니다. LEICA EM AFS2 현미경은 이러한 모든 기능을 결합하여 고급 이미징 기능을 제공합니다. 고해상도 이미지와 샘플 준비를 필요로 하는 사용자를 위해 설계되었습니다. 이 현미경은 샘플 준비 (sample preparation), 이미징 (imaging), 요소 분석 (elemental analysis) 등 다양한 운영 모드로 다양한 응용 프로그램을 쉽게 수용 할 수 있습니다. 또한 EM AFS2 현미경은 사용이 간편한 GUI (그래픽 사용자 인터페이스), 라이브 비디오, 고급 이미지 분석 툴을 통해 사용자에게 편리하고 편리하게 사용할 수 있도록 설계되었습니다.