판매용 중고 KSI Scanning Acoustic Microscope (SAM) #293814825

SAM (KSI Scanning Acoustic Microscope) 은 재료의 비파괴 테스트 및 분석에 사용되는 고급 기기입니다. 음향 현미경 주사 (Scanning Acoustic Microscopy) 원리로 작동하는 SAM은 초음파 전송을 통해 고해상도 이미징 및 샘플의 특성을 가능하게합니다. 이 최첨단 기술은 반도체, 도자기, 금속, 복합 물질, 생물 조직 등 다양한 물질의 내부 구조, 특성, 결함을 조사하기위한 강력한 도구를 제공합니다. KSI SAM 시스템의 중심에는 일반적으로 수십 ~ 수백 메가 헤르츠 (Metahertz) 범위의 고주파 음파를 생성하는 트랜스듀서가 있습니다. 이들 초음파 는 "샘플 '표면 에 초점 을 맞추며, 거기서 그 들 은 물질 과 상호 작용 을 하며," 트랜스듀서' 에 의해 검출 되는 반사 를 일으킨다. 샘 (SAM) 은 반사 신호의 비행 시간과 진폭을 분석함으로써 마이크로미터 배율 해상도 (micrometer-scale resolution) 로 샘플의 내부 기능에 대한 자세한 이미지를 만들 수 있습니다. 샘 (SAM) 의 주요 장점 중 하나는 샘플의 횡단면 뷰 (cross-section view) 를 제공하는 기능으로, 다른 이미징 기술로는 볼 수 없을 수 있는 지하 구조 및 결함을 시각화 할 수 있습니다. 이 기능을 통해 SAM은 내부 균열, 공백 (void), 딜라미네이션 (delamination) 및 기타 재료의 결함을 식별하는 데 특히 유용하며, 이는 항공 우주, 전자, 제조 등 다양한 업계의 구성 요소의 품질과 무결성을 평가하는 데 중요합니다. SAM은 이미징 (Imaging) 뿐만 아니라 재료의 기계적 특성에 대한 귀중한 통찰력을 제공 할 수있는 정량적 분석 기능도 제공합니다. SAM은 샘플을 통해 전파되는 음파의 속도를 측정함으로써 탄성 계수 (elastic modulus), 밀도 (density), 음향 임피던스 (acoustic impedance) 와 같은 매개변수를 계산할 수 있습니다. SAM의 스캐닝 (scanning) 기능을 사용하면 샘플을 체계적으로 매핑할 수 있으며, 여러 관심 영역을 검사하고 내부 기능에 대한 자세한 2D 및 3D 이미지를 생성할 수 있습니다. 이 기능은 재료 구조와 특성에 대한 포괄적인 이해가 필요한 품질 관리 (Quality Control), 장애 분석 (Failure Analysis) 및 연구 응용 프로그램에 특히 유용합니다. 또한, SAM의 다용도는 다양한 샘플 크기, 모양 및 유형으로 확장되어 다양한 응용 프로그램을위한 다용도 도구입니다. 작은 전자 부품에서 큰 산업 부품에 이르기까지, SAM (SAM) 은 다양한 크기와 기하학 샘플을 수용할 수 있으며, 다양한 산업 및 연구 분야에 적합합니다. 전반적으로 SAM (KSI Scanning Acoustic Microscope) 은 자재 테스트 및 분석을위한 정교하고 강력한 도구를 나타냅니다. 고해상도 이미징, 정량적 분석, 스캐닝 (Scanning) 기능을 갖춘 SAM은 자재의 내부 구조, 특성, 결함에 대한 귀중한 통찰력을 제공하여 다양한 업종의 품질 관리, 연구, 개발에 필수적인 요소입니다.