판매용 중고 KEYENCE VK-X200 #293759418

KEYENCE VK-X200은 정밀 이미징 및 측정 기능의 새로운 표준을 설정하는 최첨단 3D 레이저 스캔 현미경입니다. 이 혁신적인 도구는 고급 광학, 레이저 기술, 소프트웨어 알고리즘을 결합하여 고해상도, 비접촉 표면 지형 측정, 뛰어난 정확도 및 속도를 제공합니다. VK-X200 은 자동차, 전자 제품, 자재 과학, 생의학 연구 등 다양한 업종의 연구, 개발, 품질 관리, 장애 분석 분야에서 다양한 응용 분야를 지원하도록 설계되었습니다. KEYENCE VK-X200 현미경에는 초점 레이저 스캔 시스템 (confocal laser scanning system) 이 있으며, 이 시스템은 레이저 빔을 사용하여 샘플의 표면을 스캔하고 하위 마이크로미터 해상도로 3D 지형 데이터를 캡처합니다. 이 초점 이미징 기법은 초점이 맞지 않는 빛을 제거하여, 거칠거나 반사도가 높은 표면에서 월등한 명암과 선명도를 가진 이미지를 생성합니다. 이 현미경에는 최대 1600 만 픽셀의 이미지를 캡처하는 고해상도 CCD (고해상도 CCD) 카메라가 장착되어 있어 표면에서 가장 작은 기능까지 상세하고 정확하게 이미징할 수 있습니다. VK-X200 은 다양한 확대 (Magnification) 옵션을 제공하여 저배율 (Low) 과 고배율 (High) 설정 사이를 전환하여 다른 규모의 샘플을 검토할 수 있습니다. 이 현미경은 또한 자동 Z축 초점 기능을 갖춘 동력 단계 (motorized stage) 를 갖추고 있으며, 넓은 샘플 영역에서 정확하고 반복 가능한 측정이 가능합니다. 직관적인 소프트웨어 인터페이스 (Software Interface) 는 이미징 매개변수, 측정 도구, 데이터 분석 기능을 손쉽게 제어할 수 있게 해 주며, 이를 통해 고품질 이미지와 데이터를 간편하게 생성할 수 있습니다. KEYENCE VK-X200 현미경의 주요 특징 중 하나는 표면 거칠기 분석, 스텝 높이 측정, 볼륨 계산, 프로파일 분석 등 고급 측정 기능입니다. 현미경은 Ra, Rz, Sa와 같은 표면 거친 매개변수를 정확하게 정량화 할 수 있으며, 샘플 표면의 품질과 성능에 대한 귀중한 통찰력을 제공합니다. 또한 VK-X200 (VK-X200) 은 나노미터 이하의 정밀도로 두 서피스 사이의 높이 차이를 측정할 수 있으므로 표면 구조와 피쳐를 자세하게 특성화하는 데 이상적입니다. KEYENCE VK-X200 현미경은 또한 사용자가 표면 지형 데이터를 실시간으로 보고 분석 할 수있는 3D 시각화 도구를 제공합니다. 이 소프트웨어를 사용하면 샘플 서피스의 세부 서피스 프로파일, 횡단면 뷰, 3D 렌더링을 생성할 수 있으므로 측정 데이터에 대한 종합적인 분석 및 해석이 용이합니다. 사용자는 데이터를 다양한 형식으로 손쉽게 익스포트하여 처리하거나 다른 소프트웨어 툴과 통합할 수 있습니다 (영문). VK-X200 현미경은 첨단 이미징 (imaging) 과 측정 (measurement) 기능 외에도 실험실이나 생산 환경에서 사용 편의성과 다양성을 고려하여 설계되었습니다. 컴팩트하고 견고한 "마이크로스코프 (microscope) '의 설계는 안정적인 성능과 장기적인 안정성을 보장하는 반면, 직관적인 소프트웨어 인터페이스는 모든 경험 수준의 사용자에 대한 운영 및 데이터 분석을 단순화합니다. KEYENCE VK-X200 현미경은 일상적인 검사, 연구 실험, 품질 관리 (Quality Control) 측정 등을 수행하든지 간에, 광범위한 어플리케이션에 탁월한 이미징 품질, 측정 정확도 및 데이터 시각화 기능을 제공합니다.