판매용 중고 KEYENCE VK-X1050 #293779302
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ID: 293779302
빈티지: 2018
Laser scanning microscope
Operating system: Windows 10 Pro
2018 vintage.
KEYENCE VK-X1050은 최첨단 3D 레이저 스캐닝 현미경으로, 연구, 품질 관리, 산업 검사에서 다양한 응용프로그램을 위한 고급 이미징 및 측정 기능을 제공합니다. 이 현미경은 고해상도 이미징 (high-resolution imaging) 과 정확한 3D 측정 기능을 결합하여 미세 구조를 분석하고 측정하는 데 필수적인 도구이며, 탁월한 정확성과 효율성을 제공합니다. VK-X1050 의 핵심은 레이저 스캐닝 기술로, 샘플을 빠르고 정확하게 스캔하여 고해상도 3D 이미지를 생성할 수 있습니다. 현미경에는 소미크론 정밀도 (sub-micron precision) 로 상세한 표면 지형을 캡처 할 수있는 고속 레이저 스캐너 (high-speed laser scanner) 가 장착되어 있으며, 사용자가 3 차원으로 샘플의 미세한 세부 사항을 시각화하고 분석 할 수 있습니다. 이 고급 스캔 기능은 상세한 2D 이미지를 캡처하는 고해상도 CCD (고해상도 CCD) 카메라로 보완되며, 사용자에게 종합적인 이미지 처리 데이터를 제공합니다. KEYENCE VK-X1050 (KEYENCE VK-X1050) 의 주요 특징 중 하나는 접촉하지 않는 표면 프로파일링을 수행하는 능력이며, 측정 중에 터치하거나 교란 할 수없는 섬세한 샘플에 이상적입니다. 현미경은 공백 광학 시스템 (confocal optical system) 을 사용하여 레이저를 샘플 표면에 집중시키고 샘플을 물리적으로 만지지 않고 표면 피쳐의 높이 프로파일을 정확하게 측정합니다. 이 비 접촉 측정 방법 (non-contact measurement method) 은 샘플의 무결성이 유지되고 분석 중 손상 또는 오염 위험을 최소화합니다. VK-X1050 은 다양한 애플리케이션 요구 사항에 맞게 다양한 측정 모드 및 분석 툴을 제공합니다. 사용자는 라인 스캐닝 (line scanning), 영역 스캔 (area scanning), 포인트 스캐닝 (point scanning) 등 다양한 스캐닝 모드를 선택하여 특정 요구에 맞게 이미징 및 측정 프로세스를 최적화할 수 있습니다. 현미경은 또한 거칠기 분석, 스텝 높이 측정, 입자 분석, 서피스 파동 측정 (surface waviness measurement) 과 같은 고급 분석 기능을 갖추고 있으며, 이를 통해 샘플의 표면 특성에 대한 자세한 정보를 추출할 수 있습니다. 키엔스 VK-X1050 (KEYENCE VK-X1050) 은 첨단 이미징 및 측정 기능 외에도 실험실이나 산업 환경에서 사용 편의성과 다양성을 고려하여 설계되었습니다. 현미경에는 직관적인 소프트웨어가 장착되어 있어 이미지 처리 (Imaging) 및 측정 (Measurement) 매개변수를 손쉽게 제어하고, 데이터를 실시간으로 시각화하고, 상세한 보고서를 생성하여 추가 분석을 수행할 수 있습니다. 또한 자동 측정 기능과 배치 처리 (Batch Processing) 기능을 통해 분석 워크플로우를 간소화하고 생산성을 높일 수 있습니다. VK-X1050 은 견고한 디자인과 고품질 구성요소를 바탕으로 구축되어 까다로운 환경에서 안정적인 성능과 내구성을 보장합니다. 현미경은 컴팩트하고 가볍기 때문에, 여러 워크스테이션 간에 쉽게 설치하고 이동할 수 있습니다. 또한 정밀한 샘플 포지셔닝 및 이미징을 위해 전동식 스테이지 (Motorized Stage) 및 자동 초점 시스템 (Autofocus System) 을 갖추고 측정의 정확성과 반복성을 더욱 향상시킵니다. 전반적으로 KEYENCE VK-X1050은 최첨단 3D 레이저 스캐닝 현미경으로, 다양한 어플리케이션에 뛰어난 이미징 및 측정 기능을 제공합니다. 첨단 기술, 다용도 기능, 사용자 친화적 설계를 갖춘 이 현미경은 연구자, 엔지니어, 품질 관리 전문가 (Quality Control Professional) 에게 필수적인 툴로서, 탁월한 정확성과 효율성을 바탕으로 미세 구조를 분석하고 측정하고자 합니다.
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