판매용 중고 HITACHI FS-200 Type II #293679641

HITACHI FS-200 Type II는 고급 재료 연구 및 분석을 위해 설계된 고성능 전송 전자 현미경 (TEM) 입니다. 최첨단 기술, 혁신적인 기능을 갖춘 이 현미경은 다양한 과학 응용프로그램을 위한 탁월한 해상도, 이미징 (Imaging) 기능을 제공합니다. HITACHI FS200 TYPE II에는 뛰어난 이미징 품질을 위해 매우 일관된 전자 빔을 제공하는 전계 방출 전자 총 (field emission electron gun) 이 장착되어 있습니다. 이 전자 총은 원자 비늘에서 고해상도 이미징 (high-resolution imaging) 을 허용하여 복잡한 구조와 인터페이스를 가진 물질을 연구하는 데 이상적입니다. 또한, 현미경은 고급 전자 광학 장비를 특징으로하여 전자 빔 (electron beam) 을 정확하게 제어하여 다양한 샘플에 대한 최적의 영상 조건을 보장합니다. FS-200 Type II의 주요 특징 중 하나는 수차 수정 이미징 시스템으로, 구형 및 반음계 수차를 최소화하여 이미지 명암과 해상도를 향상시킵니다. 이 수정 기술을 통해 연구자들은 샘플에 대한 더 명확하고 상세한 이미지를 얻을 수 있으며, 표면의 복잡한 특징과 원자 구조가 눈에 띄게 드러납니다. 수차 수정 단위는 또한 현미경의 분석 능력을 향상시켜, 물질의 정확한 화학 분석 및 원소 매핑을 가능하게합니다. 성능 측면에서 FS200 TYPE II는 탁월한 이미징 해상도를 제공하며, 최대 배율은 최대 1 백만 배입니다. 이 높은 확대 기능을 통해 연구자들은 원자 수준에서 재료를 탐구 할 수 있으며, 샘플 내에서 결정 구조, 결함, 조성 변이를 자세히 조사 할 수 있습니다. 현미경은 또한 고해상도 TEM, 스캔 TEM 및 종합적인 재료 특성화를위한 STEM-EDS (에너지 분산 X- 선 분광법) 를 포함한 광범위한 이미징 모드를 특징으로합니다. 또한, HITACHI FS-200 Type II에는 다양한 샘플 유형 및 크기를 지원하는 다용도 샘플 처리 머신이 장착되어 있습니다. 현미경은 정밀 위치 제어 (precision positioning control) 를 갖춘 전동식 샘플 스테이지를 특징으로하며, 사용자가 샘플 내에서 다양한 관심 영역을 쉽게 탐색하고 조사 할 수 있습니다. 샘플 스테이지는 기울기 (tilt) 및 회전 (rotation) 기능도 제공하여 공간 해상도가 높은 재료를 단층 촬영 및 3D 재구성할 수 있습니다. HITACHI FS200 TYPE II의 또 다른 주목할만한 특징은 전자 에너지 손실 분광법 (EELS) 및 전자 회절을 포함한 고급 분석 기능입니다. 이러한 분석 기술은 재료의 전자 및 구조적 특성에 대한 귀중한 통찰력을 제공하며, 연구원은 뛰어난 감도 및 정밀도로 결합 구성, 전자 상태, 결정 학적 방향 (crystallographic orientation) 을 연구 할 수 있습니다. 결론적으로, FS-200 Type II는 최첨단 전송 전자 현미경으로, 고급 재료 연구를위한 최고의 이미징 해상도, 분석 성능 및 샘플 처리 기능을 제공합니다. 첨단 기술과 혁신적인 디자인으로, 이 현미경은 재료 과학 (materials science), 나노 기술 (nanotechnology), 반도체 기술 (semiconductor technology) 등의 분야에서 일하는 과학자와 연구자들에게 귀중한 도구입니다.