판매용 중고 BRUKER / VEECO Icon 3 #9257586

BRUKER/VEECO Icon 3은 나노 스케일 수준에서 샘플 표면을 분석하는 데 사용되는 스캐닝 프로브 현미경 (SPM) 입니다. 생물학 및 재료 과학, 반도체 물리학, 마이크로 일렉트로닉스 (microelectronics) 등 다양한 연구 응용 분야에 사용될 수 있습니다. VEECO Icon 3은 스캐닝 터널링 현미경 (STM) 과 원자력 현미경 (AFM) 을 사용합니다. BRUKER Icon 3에는 샘플 분석을위한 다양한 기능이 있습니다. 카메라가 장착된 고감도 디지털 이미징 (digital imaging) 장비로, 다양한 나노 구조를 쉽게 분석할 수 있습니다. 또한 견본 조작을 매우 정확하게 허용하는 고해상도 스테이지 이동 시스템이 있습니다. 아이콘 3 (Icon 3) 은 원자 수준 해상도에서 샘플을 이미징 할 수 있으며, 환경에서 4K의 온도까지 측정 할 수 있습니다. 스캐닝 터널링 현미경 (Scanning tunneling microscopy, STM) 은 초선명 전도성 프로브를 사용하는 비 침습적 이미징 기술로, 샘플의 표면 지형을 측정하는 데 사용됩니다. "샘플 '은 특수 접시 에 장착 되고" 프로브' 는 표면 을 가로질러 주사 되고 "샘플 '은 진공 상태 로 유지 된다. 프로브 (Probe) 가 샘플을 스캔함에 따라, 프로브와 샘플 표면 사이에 생성되는 양자 힘을 감지한다. 결과 데이터를 수집하여 나노 스케일 레벨 (nano scale level) 에서 샘플 이미지를 작성하는 데 사용합니다. 이 방법론을 통해 연구원은 샘플의 특징 (예: 원자 수준 해상도 이미지 또는 화학적 조성) 에 대한 자세한 정보를 얻을 수 있습니다. 원자력 현미경 (AFM, Atomic force microscopy) 은 샘플의 여러 지점에서 힘을 측정하기 위해 샘플 표면을 가로 질러 매우 미세한 팁을 스캔하는 기술입니다. 이 기술을 사용하면 약 0.01 나노 미터 (0.01 나노 미터) 의 평면 외 해상도로 샘플 표면에서 피쳐를 시각화할 수 있습니다. BRUKER/VEECO 아이콘 3은 또한 표면의 3D 이미지를 얻기 위해 여러 샘플 포인트를 한 번에 추적할 수 있습니다. VEECO Icon 3 (VEECO Icon 3) 에는 다양한 예제 분석 도구 및 소프트웨어 (예: 일반 용도 소프트웨어) 가 포함되어 있으며, 연구원은 샘플의 기본 측정, 보다 구체적인 소프트웨어 패키지를 수행 할 수 있습니다. 이들 소프트웨어 패키지 (software package) 는 샘플을 더 자세히 분석 할 수 있으며, 이를 통해 연구원은 샘플의 전기 및 열 특성 (electrical and thermal properties) 과 같은 특성을 조사 할 수 있습니다. 요약하면, BRUKER Icon 3은 광범위한 기능을 갖춘 고해상도 스캐닝 프로브 현미경입니다. 고해상도 이미징 장치 (High-Resolution Imaging Unit) 와 스테이지 이동기 (Stage Movement Machine) 를 통해 과학자들은 원자 수준 해상도까지 매우 정확하게 샘플을 연구 할 수 있습니다. 아이콘 3 (Icon 3) 에는 샘플 분석을위한 다양한 소프트웨어 패키지가 있으며, 나노 스케일 (nanoscale) 수준에서 연구하는 데 필수적인 도구입니다.