판매용 중고 BRUKER / VEECO Icon 3 #293814468
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ID: 293814468
Atomic Force Microscope (AFM)
Computer P/N: 481-016-100
NANO SCOPE V Computer P/N: 840-014-517T
Stage controller FS P/N: 840-002-372
Assembly e-Box P/N: 840-002-380
TMC Table model: 63-574.
BRUKER/VEECO Icon 3은 다양한 과학 응용 프로그램에 최첨단 이미징 기능을 제공하는 고급 현미경 시스템입니다. 이 강력한 현미경은 두 개의 주요 현미경 회사 인 VEECO 및 BRUKER의 전문 지식을 결합하여 연구원, 과학자, 엔지니어를위한 고성능, 다용도 이미징 솔루션을 제공합니다. VEECO 아이콘 3 (VEECO Icon 3) 의 핵심은 최첨단 이미징 기술로, 뛰어난 선명도와 정확도로 샘플을 시각화하고 분석할 수 있습니다. 현미경은 SPM (Scanning Probe Microscopy) 과 AFM (Atomic Force Microscopy) 기술의 조합을 특징으로하여 나노 스케일 수준에서 표면의 고해상도 이미징을 허용합니다. BRUKER 아이콘 3 (BRUKER Icon 3) 의 주요 강점 중 하나는 다양한 샘플과 연구 요구를 수용 할 수있는 다재다능성입니다. 생물학적 표본, 재료 과학, 반도체 장치, 기타 응용 분야를 연구할 때, 사용자는 현미경에 의존하여 자세한 이미지와 정확한 측정을 제공할 수 있습니다. 아이콘 3 (Icon 3) 은 다른 현미경 시스템과 구별되는 다양한 고급 기능을 자랑합니다. 여기에는 고속 이미징 기능이 포함되며, 효율적인 워크플로우를 위한 신속한 데이터 수집 및 처리가 가능합니다. 또한, 현미경은 유연한 이미징 모드 (Imaging Mode Selection) 를 제공하여 응용 프로그램에 가장 적합한 이미징 기술을 선택할 수 있습니다. BRUKER/VEECO Icon 3의 또 다른 주목할만한 기능은 사용자 친화적 인 인터페이스로, 초보자와 숙련 된 사용자 모두 현미경을 효과적으로 작동 할 수 있습니다. 이 시스템은 영상 매개변수를 정확하게 제어할 수 있는 직관적인 소프트웨어, 편리한 데이터 분석 (data analysis) 및 시각화 (visualization) 툴을 갖추고 있습니다. VEECO Icon 3은 이미징 기능 외에도 고급 측정 및 분석 기능도 제공합니다. 연구자들은 지형 매핑, 표면 거칠기 분석, 기계적 특성 측정 등에 현미경의 기능을 활용할 수 있습니다. 이 시스템은 샘플의 정량적 특성을 가능하게하며, 물리적, 화학적 특성에 대한 귀중한 통찰력을 제공합니다. BRUKER Icon 3은 연구 실험실과 산업 환경을 염두에 두고 설계되었으며, 견고한 구성과 안정적인 성능을 갖추고 있습니다. 현미경은 지속적인 사용을 견딜 수 있도록 만들어졌으며, 장기간에 걸쳐 일관된 결과를 제공합니다. 소형 설치 공간은 다양한 실험실 환경에 설치하기에 적합합니다. 전반적으로 아이콘 3 (Icon 3) 은 현미경 기술의 상당한 발전을 나타내며, 광범위한 과학 분야에 탁월한 이미징 및 분석 기능을 제공합니다. 고급 기능, 다용도 기능, 사용자 친화적 인 디자인의 조합으로, 현미경은 나노 스케일 이미징 (Nanoscale Imaging) 과 탐사 (Exploration) 의 경계를 푸시하려는 연구원들에게 귀중한 도구입니다.
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