판매용 중고 BRUKER / VEECO Dimension Icon #9393344
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판매
ID: 9393344
빈티지: 2012
Atomic Force Microscope (AFM)
Tool functionality:
Lab tool
AFM Measurement tool
VC-C Floor vibration
Controller box non-functional
Does not include test report
2012 vintage.
BRUKER/VEECO Dimension Icon 은 SEM 의 고급 기능과 AFM 의 다양성을 결합한 스캐닝 전자 현미경입니다. 이 특정한 현미경은 작은 표본 (small sample) 과 구조 (structure) 의 특성화에 이상적이다. 넓은 치수에 걸쳐 높은 수준의 정확도로 작동하는 능력 때문이다. 유기 물질 (organic material) 에서 고분자 (polymer), 무기 재료 등에 이르기까지 다양한 재료의 이미지와 데이터를 캡처 할 수 있습니다. VEECO Dimension Icon (VEECO Dimension Icon) 은 종종 연구자들이 샘플의 정확하고 상세한 나노 스코픽 이미지를 얻려고하는 선택 도구입니다. 현미경은 지형, 구성, 전기 특성 등 다양한 기능을 캡처 할 수 있습니다. 자동화된 이미징 및 분석 시스템을 갖추고 있어 빠르고 효율적인 결과를 얻을 수 있습니다 (영문). 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 를 통해 현미경의 기능을 손쉽게 탐색할 수 있으며, 포괄적인 소프트웨어 패키지를 통해 데이터를 빠르고 효과적으로 수집, 분석할 수 있습니다. BRUKER Dimension Icon에는 다양한 기능이 있어 연구원들에게 이상적인 선택입니다. 예를 들어, 다중 검출기 시스템을 사용하면 고급 이미징 기능을 통해 고해상도 이미지를 제공할 수 있습니다. 치수 아이콘 (Dimension Icon) 을 사용하면 샘플의 화학적, 기계적 특성에 대한 더 나은 그림을 얻을 수 있으며, 더 나은 결과와 더 정확한 해석을 얻을 수 있습니다. 현미경은 또한 원자력 현미경 (AFM), 스캐닝 터널링 현미경 (STM) 및 힘 거리 곡선 (FDC) 을 포함하여 나노 영상을위한 다양한 도구를 제공합니다. 이 도구들은 함께 표면 지형 (surface topography) 에서 표면 화학 (surface chemistry) 에 이르기까지 샘플의 자세한 이미지를 제공 할 수 있습니다. 이 다양한 성능 덕분에 샘플에 대한 다양한 분석 데이터 (analytical data) 를 수집할 수 있습니다. BRUKER/VEECO Dimension Icon은 작은 샘플과 구조를 이미징 및 분석하기 위한 강력한 도구입니다. 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 와 종합적인 소프트웨어 패키지 (software package) 가 결합된 다목적 기능 세트는 다양한 연구 프로젝트에 적합한 선택입니다. 자동화된 이미지 처리 및 분석 시스템 (Automatable Imaging and Analysis Systems) 은 데이터를 빠르고 정확하게 수집, 분석할 수 있도록 보장하여, 사용자가 신뢰할 수 있는 결과를 얻을 수 있도록 합니다.
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