판매용 중고 BRUKER / VEECO Dimension Icon #293827011

BRUKER/VEECO Dimension Icon은 독특하고 고급 연구 및 실험실 도구입니다. 나노 미터 스케일 샘플 특성화를위한 다중 기술 원자력 현미경 (AFM) 입니다. VEECO Dimension Icon은 재료 과학 및 반도체 연구, 특히 표면 의존적 프로세스 및 나노 스케일 재료 특성을 분석하는 데 가장 많이 사용됩니다. 장비에는 Contacting Mode, Tapping Mode, Dynamic Contact Mode 및 Static ContactMode 등 다양한 AFM 스캔 모드를 지원할 수있는 독특한 SMM (MultiMode 8 Scanning Probe) 현미경이 포함됩니다. 따라서 안정성이 향상되어 일관되고 재현가능한 나노스케일 (nanoscale) 이미지와 데이터를 생성할 수 있습니다. 이 시스템은 또한 나노 미터 (nanometer) 이하의 해상도로 나노 스케일 구조를 측정하고 분석하도록 설계된 고급 나노 도량형 모듈을 갖추고 있습니다. BRUKER Dimension Icon 은 개방형 아키텍처를 통해 설계되었으며, 여러 액세서리 및 외부 장치와 완벽하게 통합됩니다. 직관적인 사용자 인터페이스를 제공하는 대형 비디오 터치스크린 (TouchScreen) 과 터치스크린 (TouchScreen) 컨트롤이 장착되어 있습니다. 이 제품은 피크 잠금 (Peak-Lock), 오토 스티치 (Autostitch), 드리프트 수정 (Drift Correction), 자동 분석 (Automated Analysis) 과 같은 다양한 툴과 기술을 제공하여 맞춤형 데이터 획득 및 분석을 용이하게 합니다. 이 장치에는 가장 까다로운 연구 응용프로그램을 위해 일관된 온도와 안정적인 작동을 보장하는 고급 열 관리 머신 (Advanced Thermal Management Machine) 도 포함되어 있습니다. 이 도구는 또한 다양한 조작 단계 및 스캐닝 프로브 (scanning probe) 와 호환되며, 동적 및 정적 모드에서 팁 샘플 상호 작용에 대한 수동 및 자동 제어를 제공합니다. 에셋에는 몇 미크론에서 수 밀리미터 사이의 샘플에 대한 샘플 홀더가 포함됩니다. 자동화된 샘플 스테이지 (sample stage) 와 전동식 스캐닝 스테이지 (scanning stage) 가 장착되어 있어 샘플 이동을 정확하게 제어할 수 있습니다. Dimension Icon은 재료 과학, 반도체 연구 및 나노 스케일 특성 적용을위한 이상적인 연구 및 실험실 도구입니다. 고급 기능, 개방형 아키텍처 (Open Architecture) 및 사용자 친화적 인터페이스 (User-Friendly Interface) 의 조합으로, 고급 기능과 일관된 결과를 추구하는 연구원들에게 완벽한 도구입니다.